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龙图腾网恭喜上海捷策创电子科技有限公司申请的专利一种芯片测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN109459683B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201811604418.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片测试装置是由蒋卫兵;王坚设计研发完成，并于2018-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试装置在说明书摘要公布了：本发明涉及测试技术领域，公开一种芯片测试装置，包括测试座组件、加热组件、测温组件和控制器，其中，测试座组件包括固定板组件和导通件；加热组件部分设置在固定板组件中；测温组件可滑动地穿设在加热组件中，且能够与芯片相接触以测量芯片的温度；外设控制器与测试座组件间隔设置，且与加热组件和测温组件电连接，外设控制器包括显示模块，用于输入预设温度和显示温度测量结果。本发明提供的芯片测试装置，外设控制器和显示模块均在常温下工作，延长了外设控制器和显示模块的使用寿命，并且在测试过程中可以调整预设温度，提高了温度控制的灵活性；另外，测温组件可以实现对芯片温度的直接测量，提高了测量的准确性。

本发明授权一种芯片测试装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：测试座组件1，包括固定板组件11和导通件12，芯片10设置于所述固定板组件11中，并通过所述导通件12与外部测试电路导通；加热组件2，部分设置在所述固定板组件11中，用于对所述芯片10加热，所述加热组件2包括加热体21和传热体22，所述加热体21可拆卸地穿设在所述传热体22中；测温组件3，可滑动地穿设在所述加热组件2中，且能够与所述芯片10相接触以测量所述芯片10的温度，所述测温组件3包括温度传感器31，所述加热组件2上开设有测试孔，所述温度传感器31可滑动地设置于所述测试孔中，且所述温度传感器31能够穿过所述测试孔与所述芯片10接触；外设控制器4，与所述测试座组件1间隔设置，且与所述加热组件2和所述测温组件3电连接，所述外设控制器4包括显示模块，用于输入预设温度和显示温度测量结果；所述测温组件3还包括弹性件32和套筒33，所述套筒33固定于所述测试孔中，所述温度传感器31的一端可滑动地穿设于所述套筒33中，所述温度传感器31上设置有凸缘，所述弹性件32套设在所述温度传感器31上，且所述弹性件32的一端与所述套筒33的端面抵接，所述弹性件32的另一端与所述凸缘抵接。

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