恭喜大塚电子株式会社中岛一八获国家专利权
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龙图腾网恭喜大塚电子株式会社申请的专利光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112798105B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011271709.7，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置是由中岛一八;野口宗裕设计研发完成，并于2020-11-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置在说明书摘要公布了：本发明提供光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置，高精度地进行使用了CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正。具备CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正方法包括：曝光步骤，使曝光时间变化而使强度恒定的基准光依次入射CMOS线性图像传感器的注目受光元件；测定值获取步骤，依次获取所述注目受光元件的测定值；实际线性误差计算步骤，依次计算表示基于与所述测定值对应的所述曝光时间得到的线性值与该测定值之差的实际线性误差；以及拟合步骤，对所述各实际线性误差执行表示第一线性误差的第一函数的拟合。
本发明授权光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置在权利要求书中公布了：1.一种线性校正方法，是具备CMOS线性图像传感器的光学测定装置的线性校正方法，其特征在于，所述线性校正方法包括：曝光步骤，使曝光时间变化而使强度恒定的基准光依次入射所述CMOS线性图像传感器的注目受光元件；测定值获取步骤，依次获取所述注目受光元件的测定值；实际线性误差计算步骤，依次计算表示基于与所述测定值对应的所述曝光时间得到的线性值与该测定值之差的实际线性误差；以及拟合步骤，对所述各实际线性误差执行表示第一线性误差的第一函数的拟合，所述拟合步骤通过使用了表示所述各实际线性误差与所述第一线性误差之差的总量的目标函数的最小二乘法，决定所述第一函数的可变参数，所述目标函数包括表示所述第一线性误差与所述各测定值所对应的所述实际线性误差之差的项，这些项通过表示所述各测定值的偏差的偏差量进行加权。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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