恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所张新获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利非序列杂散光追迹方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115629473B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211155304.6，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权非序列杂散光追迹方法是由张新;刘铭鑫;史广维设计研发完成，并于2022-09-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本非序列杂散光追迹方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种非序列杂散光追迹方法，包括：根据要追迹杂散光的光学系统，确定关注面；根据所述关注面，确定散射光线的重点采样投影区及重点采样立体角；根据重点采样投影区及重点采样立体角，生成重点采样光线，以完成所有光线的追迹。本申请能够快速判断杂散光抑制量级，路径分析更方便，追迹时间更短，精度更高。
本发明授权非序列杂散光追迹方法在权利要求书中公布了：1.一种非序列杂散光追迹方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：a.根据要追迹杂散光的光学系统，确定关注面；b.根据所述关注面，确定散射光线的重点采样投影区及重点采样立体角；c.根据重点采样投影区及重点采样立体角，生成重点采样光线，以完成所有光线的追迹；所述的步骤a包括：由光源出发，进行快速追迹，统计所有光源发出光线能够直接到达的表面，记录此类表面为照明面Ψ1-Ψn；由像面出发，以像面作为拓展光源，以F数计算光源角度，公式如下： 其中，f#为探测器F数；所述的步骤a还包括：统计所有像面发出光线能直接到达的表面，记录此类表面为关键面Τ1-Τn；取照明面和关键面交集，确定为关注面Τi-Τj；所述的步骤b包括：当光线到达散射表面时，根据预设散射光线数N，生成相应数量的散射光线，确认重点采样投影区，将更多散射光线向杂散光贡献大的表面入射；通过光线交点与所有关注面进行索引。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，其通讯地址为：130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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