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龙图腾网恭喜中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利基于积分球面光源补偿的面阵探测器非均匀性校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119164481B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411660877.3，技术领域涉及：G01J1/08；该发明授权基于积分球面光源补偿的面阵探测器非均匀性校正方法是由郑小兵;石远见;李新;张权;刘恩超;王鑫蕊;彭书杰设计研发完成，并于2024-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于积分球面光源补偿的面阵探测器非均匀性校正方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于积分球面光源补偿的面阵探测器非均匀性校正方法，属于探测辐射计数据校正、遥感器定标、光学辐射测量领域，包括：根据辐射强度模型，测量与积分球出光口相距一定距离且与积分球出光口平面平行的面阵探测器靶面上所有采样点的辐射强度；将所有采样点的辐射强度代入到辐射强度模型中进行拟合，从而得到拟合好的面光源辐射强度；对拟合好的面光源辐射强度进行非均匀性补偿；使用补偿后的面光源辐射强度对面阵探测器进行非均匀性校正。本方法考虑了积分球面光源的非均匀性，使得在面阵探测器非均匀性的校正过程中，步骤更加细节严谨、数据更加精确、校正结果更加准确。

本发明授权基于积分球面光源补偿的面阵探测器非均匀性校正方法在权利要求书中公布了：1.基于积分球面光源补偿的面阵探测器非均匀性校正方法，其特征在于，包括：S110，根据辐射强度模型，测量与积分球出光口相距一定距离且与积分球出光口平面平行的面阵探测器靶面上所有采样点的辐射强度，辐射强度模型指的是依据实际测量装置，由积分球出光口与面阵探测器靶面组成的模型；S120，将所有采样点的辐射强度代入到辐射强度模型中进行拟合，从而得到拟合好的面光源辐射强度；S130，对拟合好的面光源辐射强度进行非均匀性补偿；S140，使用补偿后的面光源辐射强度对面阵探测器进行非均匀性校正；用于得到所有采样点的辐射强度的实际测量装置包括面阵探测器、滑轨、竖直旋转台、积分球，其中面阵探测器固定于滑轨上，滑轨固定于竖直旋转台上，面阵探测器能够沿着滑轨移动，竖直旋转台能够带动滑轨和面阵探测器一起转动，积分球出光口的中心、面阵探测器靶面的中心与竖直旋转台的中心对齐；采样点的设置包括：从0°开始，每隔30°确定一条采样半径，每条采样半径上等距离分布6个采样点，通过调节滑轨与竖直旋转台使得面阵探测器靶面的几何中心依次对准每个采样点，顺序是首先对准中心采样点，接着对准0°采样半径上的第一个采样点，接着对准30°采样半径上的第一个采样点，一直到对准330°采样半径上的第一个采样点，然后继续对准0°采样半径上的第二个采样点、对准30°采样半径上的第二个采样点，依此类推，直至对准最后一个采样点即330°采样半径上的第六个采样点为止；得到所有采样点的辐射强度的过程包括：步骤一：在中心采样点位置，将面阵探测器的积分时间设置为，该积分时间的信号值约为满量程的20%，控制面阵探测器分别采集50组光信号与50组暗信号，光信号与暗信号分别求平均并相减得到净信号；步骤二：在中心采样点位置，将面阵探测器的积分时间设置为，该积分时间的信号值约为满量程的80%，控制面阵探测器分别采集50组光信号与50组暗信号，光信号与暗信号分别求平均并相减得到净信号；步骤三：将面阵探测器的积分时间设置为，该积分时间的信号值约为满量程的50%，从中心采样点位置开始，在每个采样点处，控制面阵探测器分别采集50组光信号与50组暗信号，光信号与暗信号分别求平均并相减得到净信号；其中，步骤一与步骤二的净信号用于后续的非均匀性校正，步骤三的净信号即为所有采样点的辐射强度。

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