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龙图腾网恭喜科磊股份有限公司申请的专利用于半导体缺陷引导预烧及系统级测试的系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116917749B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202280018257.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权用于半导体缺陷引导预烧及系统级测试的系统及方法是由R·J·拉瑟;D·W·普利斯;C·V·伦诺克斯;O·唐泽拉;J·鲁滨逊设计研发完成，并于2022-06-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于半导体缺陷引导预烧及系统级测试的系统及方法在说明书摘要公布了：用于半导体缺陷引导预烧及系统级测试SLT的系统及方法经配置以：从线内缺陷部分平均测试I‑PAT子系统接收多个线内缺陷部分平均测试I‑PAT分数，其中所述多个I‑PAT分数由所述I‑PAT子系统基于多个半导体裸片的半导体裸片数据产生，其中所述半导体裸片数据包含所述多个半导体裸片的特性化测量，其中所述多个I‑PAT分数中的每一I‑PAT分数表示由所述I‑PAT子系统基于所述多个半导体裸片中的对应半导体裸片的特性化测量所确定的缺陷率；在动态决策过程期间将一或多个规则应用于所述多个I‑PAT分数；及基于所述动态决策过程为所述多个半导体裸片中的至少一个半导体裸片产生一或多个缺陷引导安置。

本发明授权用于半导体缺陷引导预烧及系统级测试的系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于半导体缺陷引导预烧及系统级测试SLT的系统，其包括：缺陷引导安置控制器，其通信地耦合到线内缺陷部分平均测试I-PAT子系统，其中所述缺陷引导安置控制器包含一或多个处理器及存储器，其中所述存储器经配置以存储一组程序指令，其中所述一或多个处理器经配置以执行使所述一或多个处理器执行以下的程序指令：从所述I-PAT子系统接收多个线内缺陷部分平均测试I-PAT分数，其中所述多个I-PAT分数由所述I-PAT子系统基于多个半导体裸片的半导体裸片数据产生，其中所述半导体裸片数据包含所述多个半导体裸片的特性化测量，其中所述多个I-PAT分数中的每一I-PAT分数表示由所述I-PAT子系统基于所述多个半导体裸片中的对应半导体裸片的特性化测量所确定的缺陷率；在动态决策过程期间将一或多个规则应用于所述多个I-PAT分数；及基于所述动态决策过程为所述多个半导体裸片中的至少一个半导体裸片产生关于预烧或SLT中的至少一者的一或多个缺陷引导安置。

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