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龙图腾网恭喜张江国家实验室申请的专利机器学习中多解问题的训练方法、X射线测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118296366B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311517042.8，技术领域涉及：G06F18/214；该发明授权机器学习中多解问题的训练方法、X射线测量方法及装置是由喻虹;王大卫;梁洪涛设计研发完成，并于2023-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本机器学习中多解问题的训练方法、X射线测量方法及装置在说明书摘要公布了：机器学习中多解问题的训练方法、X射线测量方法及装置，应用在纳米测量技术领域，利用X射线获取待检测目标件的散射图谱；利用测量模型对散射图谱分析，得到待检测器件的关键尺寸；测量模型是通过将样本器件的数据集输入至待训练测量模型中，基于联合损失函数对待训练测量模型进行训练得到的；联合损失函数的损失因子包括基于样本器件的关键尺寸的预测值的损失因子、预测值的巴比涅互补损失因子、预测值的中心对称损失因子及预测值的巴比涅互补的中心对称损失因子。通过结合物理先验信息在模型训练过程中构建联合损失函数，计算同一散射图谱对应的所有可能结构的损失，解决了多解问题，训练好的测量模型可以实时且高精度的X射线散射测量计算。

本发明授权机器学习中多解问题的训练方法、X射线测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种X射线散射测量方法，其特征在于，包括：利用X射线获取待检测目标件的散射图谱；利用测量模型对所述散射图谱进行分析，以得到所述待检测器件的关键尺寸；所述测量模型是通过将样本器件的数据集输入至待训练测量模型中，基于联合损失函数对所述待训练测量模型进行训练得到的；所述联合损失函数中的损失因子包括基于样本器件的关键尺寸的预测值的损失因子、所述预测值的巴比涅互补损失因子、所述预测值的中心对称损失因子及所述预测值的巴比涅互补中心对称损失因子，所述联合损失函数的计算公式如下： 其中，yp为模型预测输出的样本器件的关键尺寸，为yp对应的损失因子，ypb为样本器件为具有yp值的巴比涅互补结构时的关键尺寸；为ypb对应的巴比涅互补损失因子，ypc为样本器件具有yp值的中心对称结构时的关键尺寸；为ypc对应的中心对称损失因子；ypbc为样本器件具有yp值的巴比涅互补及中心旋转结构时的关键尺寸，为ypbc对应的巴比涅互补中心对称损失因子；yt为样本器件的标签值。

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