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龙图腾网恭喜湛江科技学院申请的专利一种存储设备的IO性能测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117690470B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311681452.6，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权一种存储设备的IO性能测试方法是由李华泰;黄定昌;卢来设计研发完成，并于2023-12-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储设备的IO性能测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种存储设备的IO性能测试方法，涉及存储设备性能测试领域，IO性能测试方法包括：获取存储设备的历史存储数据，基于历史存储数据建立测试数据库；获取存储设备的历史使用数据并在存储设备内划分若干个测试分区；在测试数据库中提取测试数据集并标记目标检测数据；将测试数据集依次输入若干个测试分区，记录每个测试分区内目标检测数据的读写响应时间，得到分区测试数据；取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间；将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果进行等级评定。其通过比较每个测试分区之间的差值评估存储设备的IO性能，减少测量误差，从而提高测试的准确性和可靠性。

本发明授权一种存储设备的IO性能测试方法在权利要求书中公布了：1.一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，所述IO性能测试方法包括：S100：获取存储设备的历史存储数据，基于所述历史存储数据建立测试数据库；S110：获取存储设备的历史使用数据，基于所述历史使用数据在所述存储设备内划分若干个测试分区；S120：在所述测试数据库中提取测试数据集，在所述测试数据库中随机抽取测试数据集，在所述测试数据集中随机选取数据，并对选取的数据进行标记，得到目标数据；S130：将所述测试数据集依次输入若干个所述测试分区，记录每个测试分区内目标数据的读写响应时间，得到分区测试数据；所述存储设备将所述测试数据集缓存预设时间后输出；获取目标数据输入存储设备的读取时刻，获取所述存储设备输出目标数据的写入时刻；结合所述读取时刻、写入时刻以及预设时间，得到所述目标数据的读写响应时间；所述目标数据的读写响应时间计算公式为： ；其中：为目标数据的读写响应时间，是目标数据的写入时刻，是目标数据的读取时刻，为预设时间；S140：取任意两个分区测试数据进行差值比较，根据差值比较结果计算误差时间；S150：将误差时间与预设的时差阈值进行比较，根据比较结果对存储设备的IO性能进行等级评定。

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