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龙图腾网恭喜深圳市飞兆微电子有限公司申请的专利一种半导体器件测试方法、装置以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118884161B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411096124.4，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种半导体器件测试方法、装置以及存储介质是由张泽华设计研发完成，并于2024-08-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体器件测试方法、装置以及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及半导体器件测试技术领域，公开了一种半导体器件测试方法、系统、设备及存储介质。本方法包括：获取历史器件测试数据和初始测试方案；基于所述历史器件测试数据，构建并训练模型，得到性能预测模型和器件参数特征；根据所述器件参数特征，利用自适应大邻域搜索模型进行处理，得到测试方案；基于所述性能预测模型对所述测试方案进行性能预测，得到预测数据，并根据所述预测数据确定最优测试方案，以根据所述最优测试方案进行器件测试。本方法有效减少了测试时间，提高了测试效率。

本发明授权一种半导体器件测试方法、装置以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件测试方法，其特征在于，包括：获取历史器件测试数据和初始测试方案；基于所述历史器件测试数据，构建性能预测模型并对其进行训练，得到器件参数特征；其中，器件参数特征为在训练模型过程中根据决策算子的权重得到；根据所述器件参数特征，利用自适应大邻域搜索模型进行处理，得到测试方案；基于所述性能预测模型对所述测试方案进行性能预测，得到预测数据，并根据所述预测数据确定最优测试方案，以根据所述最优测试方案进行器件测试；其中，所述根据所述器件参数特征，利用自适应大邻域搜索模型进行处理，得到测试方案，包括：初始化自适应大邻域搜索模型的参数，并将所述初始测试方案设定为第一测试方案；其中所述参数包括初始搜索范围、预设迭代次数、算子集合以及初始算子权重；根据所述器件参数特征进行迭代搜索，得到第二测试方案，并记录迭代次数；根据预设评价指标，判断所述第二测试方案的评价指标是否优于所述第一测试方案的评价指标，若是，则将所述第二测试方案更新为第一测试方案；若否，则舍弃第二测试方案，其中，预设评价指标包括测试时间、缺陷检测率；继续下一次迭代，当所述迭代次数大于或等于预设迭代次数时，将当前的第一测试方案输出作为最优测试方案；其中，所述预测数据是测试方案时获得的性能指标，包括缺陷检测率、测试时间；其中，所述基于所述性能预测模型对所述测试方案进行性能预测，得到预测数据，并根据所述预测数据确定最优测试方案，包括：根据预设误差阈值，对所述预测数据进行判断；当所述预测数据的误差大于预设误差阈值时，利用所述自适应大邻域搜索模型对所述测试方案进行更新；当所述预测数据的误差小于所述预设误差阈值时，确定所述测试方案为最优测试方案。

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