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龙图腾网恭喜国网冀北电力有限公司超高压分公司;国家电网有限公司;武汉思瑞达信息科技有限公司申请的专利一种基于电光效应的电场测量分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119001253B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411117300.8，技术领域涉及：G01R29/12；该发明授权一种基于电光效应的电场测量分析方法是由郭昕阳;王斐然;李振动;韩庚;任振龙;李达;李玉宝;蔡龙;张峰;薛卿;周志文;李大伟;蒋涛;邢延超;施鹏;刘德明;郝新磊;李坡;侯子龙;宋振;何雷;赵磊;石朝阳;陈曜设计研发完成，并于2024-08-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于电光效应的电场测量分析方法在说明书摘要公布了：本发明涉及电场测量技术领域，具体的是一种基于电光效应的电场测量分析方法，包括：S1，确定测量时射入的初始光信号；S2，确定初始光信号的传播方向上的角度，将初始光信号按照多个角度射入电光晶体，确定电场方向和大小发生变化时，电场效应的计算值；S3，根据初始光信号的每个传播方向上电场效应的计算值，确定光传播时对应的坐标和路径坐标，将光通过的路径进行叠加；S4，确定路径叠加后出现重叠时每个角度的耦合量，并确定出现重叠和二次折射的影响；S5，根据出现重叠和二次折射的影响，确定初始光信号在叠加时，对应电场的大小和方向的变化，并确定影响电光效应测量的因素。提高了电场测量的准确性和效率。

本发明授权一种基于电光效应的电场测量分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于电光效应的电场测量分析方法，其特征在于，包括：S1，确定测量时射入的初始光信号；S2，确定初始光信号的传播方向上的角度，将初始光信号按照多个角度依次射入电光晶体，确定电场方向和大小发生变化时，电场效应的计算值；S3，根据初始光信号的每个传播方向上电场效应的计算值，确定光传播时对应的坐标和路径坐标，将光通过的路径进行叠加；S4，确定路径叠加后出现重叠时每个角度的耦合量，并确定出现重叠和二次折射的影响；S5，根据出现重叠和二次折射的影响，确定初始光信号在叠加时，对应电场的大小和方向的变化，并确定影响电光效应测量的因素；步骤S2中对于电场效应的计算值表示为，在晶体进行折射时，获取电光晶体的电光系数和电场，确定电光晶体对应的折射率变化值： ；其中，是折射率变化值，是电光系数，是电场；对于步骤S3中路径进行叠加的方式包括，统计相位累积和每条路径上的折射率变化值；相位累积表示为： ；其中，是总的相位累积，是第j条路径上的相位累积，； ；其中，是第j个路径的波数； ，其中，是圆周率，是光的波长，是每条路径上的折射率；基于识别到图像重叠的路径，确认出现重叠的路径上对应重叠的位置，以及在重叠位置发生变化时，每个路径上折射率的变化值，基于折射率的变化值，确定折射率变化时对应的斜率，并将斜率作为识别当前电场的基础路径；将识别到折射率变化的最大斜率的路径最为当前识别的基础路径，并将其他重叠的路径与折射率变化最大的路径叠加，将叠加后的路径作为计算重叠和二次影响的路径；对于步骤S4中每个角度的耦合量表示为：获取两个角度的光信号对应的耦合模式和： ； ；其中，和分别代表两个耦合模式的复振幅随时间t的变化；代表虚数单位；是耦合常数；定义为两个模式的波数之差；即，其中和分别是两个模式的波数；z表示沿着波导或晶体的传播方向的空间坐标，t是时间变量，e是指数常数，B表示对应的耦合模式下的初始振幅，A表示对应的耦合模式下的初始振幅；步骤S4中确定出现重叠和二次折射的影响时还包括，基于折射的光线，确定光线二次折射后计算的相位差；二次折射后的相位差表示为，获取二次折射后的干涉光强、以及产生折射的两束相干光的初始光强，确定二次折射后的相位差： ；其中，是干涉光强，和分别表示两束相干光的初始光强，是二次折射后的相位差；步骤S4中对于重叠和二次折射的影响表示为：确定初始光信号叠加后的相位匹配条件、二次折射的效率；相位匹配条件满足初始光信号叠加后的二次谐波量为两个基频光的波矢量的相加之和；二次折射的效率为： ；其中，是二次折射的效率，是二阶非线型极化率，是相位失配因子；是电光晶体的长度；在步骤S5中确定影响电光效应测量的因素的实现方式包括：确定二次折射的效率、相位匹配条件、以及二次折射产生的相位差时，对当前测量的光信号进行分析，获取测量时的实际测量值，并确定实际测量值与预设测量值的测量误差，测量误差包括二次折射的效率、相位匹配条件对应获取时测量产生的误差，确定出现测量误差时，光信号的传播方向上的角度、以及对应的电场方向和大小，获取光信号的传播方向上的角度、以及对应的电场方向和大小在出现测量误差时的概率分布，确定出现测量误差时光信号的传播方向上的角度、以及对应的电场方向和大小对应的最大似然值。

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