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龙图腾网恭喜中科亿海微电子科技(苏州)有限公司申请的专利一种芯片电源测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119044817B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411545799.2，技术领域涉及：G01R31/40；该发明授权一种芯片电源测试装置及方法是由薛超;乔晓冬;魏育成设计研发完成，并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片电源测试装置及方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种芯片电源测试方法，包括，在测试电路板上放多个并联电阻，测试电路板用于模拟芯片，多个并联电阻的阻值可变，所述测试电路板放置在散热结构上，设定初始电阻值，测量散热壳体、测试电路板、芯片供电电源的温度，并将测试的温度与特定散热环境下预设温度上限进行比对，基于比对结果对电阻值进行调整；通过调整所述测试电路板上电阻的阻值，用于检测在特定散热环境下，所述芯片供电电源的供电能力。本发明设置电阻电路的测试电路板模拟芯片，将测试电路板放置在特定的散热环境下，并根据温度检测结果的反馈，对电阻电路的电阻值进行改变，以模拟在实际工作环境中真实散热性能下的电源供电能力，同时不会对供电电源造成损伤。

本发明授权一种芯片电源测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片电源测试方法，其特征在于，包括，在测试电路板上放多个并联电阻，测试电路板用于模拟芯片，多个并联电阻的阻值可变，所述测试电路板放置在散热结构内；所述测试电路板上并联电阻阻值调整方法是，并联电阻电路上，每个并联电阻均通过开关管连接至测试电路板上，所述开关管通过信号控制关断，选择所述并联电阻接入所述测试电路板上；设定初始电阻值，芯片供电电源向测试电路板供电，测量散热壳体、测试电路板、芯片供电电源的温度，并将测量温度与特定散热环境下所述散热壳体、所述测试电路板、所述芯片供电电源的预设温度上限进行比对，基于比对结果对电阻值进行调整；所述测试电路板上电阻阻值调整方法是，当测量温度结果低于预设温度上限持续时间超过预设时间后，增加一个并联电阻接入所述测试电路板；芯片供电电源的设计电压与设计电流计算得出的总电阻值为并联电阻电路中所有的电阻接入后的阻值大小；通过调整所述测试电路板上电阻的阻值，用于检测在特定散热环境下，所述芯片供电电源的供电能力；所述测量温度结果高于特定散热环境下所述的散热壳体、测试电路板以及芯片供电电源预设温度上限持续时间超过预设时间或所述测试电路板中并联电阻数量达到上限时，所述芯片供电电源在特定散热环境下供电能力满足设计需求。

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