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龙图腾网恭喜中南大学申请的专利一种晶体内部体缺陷的检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119198774B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411720455.0，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权一种晶体内部体缺陷的检测方法是由段玉霞;陈小钰;赵纪祥;孟建桥设计研发完成，并于2024-11-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种晶体内部体缺陷的检测方法在说明书摘要公布了：一种晶体内部体缺陷的检测方法，包括以下步骤：S1、取经过检测的存在内部体缺陷的晶体；S2、利用线光源从晶体侧面进行照射，以获取包含晶体内部体缺陷的散射光的晶体层析图像；对晶体层析图像进行大小修正；S3、对修正后的晶体层析图像进行时序分析及处理，突出缺陷点的特征；S4、结合已知晶体的内部缺陷位置及该位置的检测时序信号，训练RNN模型得到晶体内部缺陷检测模型；S5、重复训练得到最终晶体内部缺陷检测模型；S6、将经过S2‑S3处理得到的待测晶体的时序信号输入最终模型中，即得到内部缺陷位置信息；S7、根据缺陷在平面上的表征滤除假缺陷。本发明解决了目前晶体内部缺陷识别过程复杂和识别效率低的问题。

本发明授权一种晶体内部体缺陷的检测方法在权利要求书中公布了：1.一种晶体内部体缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、取经过检测的存在内部体缺陷的晶体；S2、利用线光源从晶体侧面进行照射，以获取包含晶体内部体缺陷的散射光的晶体层析图像信息；对晶体层析图像进行修正，将晶体层析图像调整至统一标准尺寸，确保分析的一致性；所述步骤S2中，对晶体层析图像进行修正包括对不同角度的检测视频进行剪切处理；将不同视频中的占据激光出光口的部分画面剪去；对剪切后的多个视频进行无缝对接拼接处理；拼接得到完整的晶体检测图像；在剪切处理之后，对晶体层析图像进行修正还包括：根据相机焦距、晶体直径、高度及折射率计算出每个检测面的实际大小，通过图像缩放和裁剪统一调整检测面大小为第一帧检测面大小；S3、对修正后的晶体层析图像的每个像素点的灰度值时间序列进行时序分析，采用信号处理技术来突出时序数据中的缺陷信息，突出缺陷点的特征；S4、结合已知晶体的内部缺陷位置以及该位置的检测时序信号，训练RNN模型得到晶体内部缺陷检测模型；S5、设置阈值，重复训练直至达到阈值；即得到最终晶体内部缺陷检测模型；S6、对待测晶体采用步骤S2～S3进行处理，将得到的时序信号输入训练好的最终模型中，即得到内部缺陷位置；S7、根据缺陷在平面上的表征，利用卷积核滤除离散噪声产生的假缺陷。

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