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龙图腾网恭喜沐曦科技(成都)有限公司申请的专利一种芯片测试电路结构获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119335372B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-14发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411886138.6，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权一种芯片测试电路结构是由刘凯峰设计研发完成，并于2024-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片测试电路结构在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试电路结构，包括存储器、功能输入电路、MBIST输入电路、输入选择电路、功能输出电路、MBIST输出电路。当芯片测试电路结构设置为存储器输入接口测试模式时，输入选择电路的第一选择通路接通，选择功能输入电路作为当前输入电路，选择MBIST输出电路为当前输出电路；当芯片测试电路结构设置为存储器输出端口测试模式时，输入选择电路的第二选择通路接通，选择MBIST输入电路为当前输入电路，选择功能输出电路为当前输出电路。本发明提高了芯片测试路径覆盖率和芯片运行频率。

本发明授权一种芯片测试电路结构在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试电路结构，其特征在于，包括存储器、功能输入电路、MBIST输入电路、输入选择电路、功能输出电路、MBIST输出电路，MBIST输入电路、MBIST输出电路为集成在芯片内部的用于测试半导体存储器的电路，所述功能输入电路、功能输出电路均为组合逻辑电路；所述存储器包括输入接口、输出接口；所述输入选择电路包括第一选择通路和第二选择通路，所述输入选择电路与存储器的输入接口相连；所述功能输入电路与所述第一选择通路相连，所述MBIST输入电路与所述第二选择通路相连，所述功能输出电路、MBIST输出电路分别与存储器的输出接口相连；所述芯片测试电路结构包括存储器输入接口测试模式和存储器输出端口测试模式；当所述芯片测试电路结构设置为存储器输入接口测试模式时，输入选择电路的第一选择通路接通，选择所述功能输入电路作为当前输入电路，选择所述MBIST输出电路为当前输出电路；当所述芯片测试电路结构设置为存储器输出端口测试模式时，输入选择电路的第二选择通路接通，选择所述MBIST输入电路为当前输入电路，选择功能输出电路为当前输出电路。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人沐曦科技(成都)有限公司，其通讯地址为：610041 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区世纪城路1129号A8栋3层；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。