恭喜武汉华威科智能技术有限公司周玉宇获国家专利权
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龙图腾网恭喜武汉华威科智能技术有限公司申请的专利一种电芯赋码检测方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114359210B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-11发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111655530.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种电芯赋码检测方法及装置是由周玉宇;柯楠;郭国涛设计研发完成，并于2021-12-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种电芯赋码检测方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种电芯赋码检测方法及装置。该方法包括步骤：采集电芯处于同一位置且不同照明环境下的多张原始图像；对每张原始图像分别进行亮度校正；提取每张原始图像的第一过曝区域、欠曝区域以及非第一过曝欠曝区域；依次对每张原始图像进行补偿，直至相邻的两张补偿图像的像素亮度差异小于预设值，则停止补偿，将该相邻的后一张补偿图像作为输出图像，对输出图像进行赋码检测。本发明通过校正过曝或者欠曝区域的图像，再对校正后的图像进行赋码检测，检测效果好。
本发明授权一种电芯赋码检测方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种电芯赋码检测方法，其特征在于，包括步骤：采集电芯处于同一位置且不同照明环境下的多张原始图像；对每张原始图像分别进行亮度校正；提取每张原始图像的第一过曝区域、欠曝区域以及非第一过曝欠曝区域；依次对每张原始图像进行补偿，直至相邻的两张补偿图像的像素亮度差异小于预设值，则停止补偿，将该相邻的后一张补偿图像作为输出图像，对输出图像进行赋码检测；其中，对每张原始图像进行补偿包括步骤：将第一张原始图像的亮度校正值作为第一张原始图像的补偿值；从第二张原始图像开始，用相邻的前一张原始图像的非第一过曝欠曝区域的补偿值作为相邻的后一张原始图像对应区域的补偿值，相邻的后一张原始图像其他区域的补偿值为该区域的亮度校正值。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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