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龙图腾网恭喜杭州领策科技有限公司申请的专利集成电路测试系统的点检方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118988750B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-21发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411489454.X，技术领域涉及：B07C5/00；该发明授权集成电路测试系统的点检方法、装置、设备及存储介质是由张健;金浩;边垚垚设计研发完成，并于2024-10-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路测试系统的点检方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路技术领域，具体涉及一种集成电路测试系统的点检方法、装置、设备及存储介质，其中测试机中的点检方法包括：获取历史测试数据，根据历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型；当料管类型为点检料管时，进入点检模式，依次对点检料管内的多个被测件进行测试，得到点检料管内多个被测件的多个测试结果；根据所有点检料管的测试结果，得到点检结果。也就是说，在集成电路测试系统中增设装有点检样品的点检料管，集成电路系统在对上料区进行处理时能够根据历史测试数据自动识别出点检料管，并依次对点检料管内的多个被测件进行测试，根据所有点检料管的测试结果得到点检结果，实现对集成电路测试系统的自动点检。

本发明授权集成电路测试系统的点检方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种集成电路测试系统的点检方法，其特征在于，应用于测试机，所述方法包括：获取历史测试数据，根据所述历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型；当所述料管类型为点检料管时，进入点检模式，依次对所述点检料管内的多个被测件进行测试，得到所述点检料管内多个所述被测件的多个测试结果，其中所述集成电路测试系统的上料区中包括一个或多个检测料管和一个或多个所述点检料管，其中所述检测料管预装有待测集成电路，所述点检料管预装有点检样品和标志样品，所述标志样品设置在点检料管的顶端；根据所有点检料管的测试结果，得到点检结果；所述获取历史测试数据，根据所述历史测试数据确定当前被测件所属料管的料管类型，包括：获取最近完成测试的第一数量的所述被测件对应的历史测试数据；根据所述历史测试数据确定所述最近完成测试的第一数量的所述被测件是否为连续的第一数量的标志样品；若为连续的第一数量的标志样品，则当前被测件所属料管的料管类型为点检料管。

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