恭喜京东方科技集团股份有限公司郭凯获国家专利权
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龙图腾网恭喜京东方科技集团股份有限公司申请的专利缺陷检测、修复方法、装置以及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112184667B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011045827.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权缺陷检测、修复方法、装置以及存储介质是由郭凯;李小龙;刘伟星;秦纬;徐智强;王铁石;张春芳;滕万鹏设计研发完成，并于2020-09-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本缺陷检测、修复方法、装置以及存储介质在说明书摘要公布了：本公开实施例提供了一种缺陷检测、修复方法、装置以及存储介质，所述缺陷检测方法包括：获取当前产品的图像作为待检测图像，对所述待检测图像进行特征分析，得到包含所述待检测图像中缺陷对象的特征图集；将所述特征图集输入预先训练完成的卷积神经网络，通过所述卷积神经网络得到所述图像中缺陷的缺陷类别矩阵和缺陷位置得分；根据所述缺陷类别矩阵和缺陷位置得分计算所述缺陷的评分。可以保证产品良率，减少不必要的生产成本的浪费。
本发明授权缺陷检测、修复方法、装置以及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取当前产品的图像作为待检测图像，对所述待检测图像进行特征分析，得到包含所述待检测图像中缺陷对象的特征图集；将所述特征图集输入预先训练完成的卷积神经网络，通过所述卷积神经网络得到所述图像中缺陷的缺陷类别矩阵和缺陷位置得分；根据所述缺陷类别矩阵和缺陷位置得分计算所述缺陷的评分；其中，所述缺陷的评分C采用下式计算得到：C＝μ*A*B其中，μ为缺陷类别影响因子，由所述缺陷所属缺陷类别确定，A为缺陷类别矩阵，B为缺陷位置得分。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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