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龙图腾网恭喜中国计量大学申请的专利一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN113155296B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110596850.2，技术领域涉及：G01J11/00；该发明授权一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的方法是由陈君;李岩松设计研发完成，并于2021-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的方法。包括：激光器产生分数阶关联涡旋光，调整光束光斑大小使其能覆盖全息型相位板；测量分数阶关联涡旋光的交叉谱密度函数CCF，并观测该函数空间中待测关联涡旋光横截面上分数拓扑荷FTC缺口位置；在空间光调制器上加载数字全息相位板并调整其方位角，使数字全息相位板产生的CCF缺口与待测关联涡旋的FTC缺口重合；使用小孔光阑选取空间光调制器反射出的一级衍射光；改变数字全息相位板的相位差；使待测光场CCF中FTC缺口与相位板缺口的重合处呈现：缺口出现‑缺口消失‑缺口出现；使用这三个现象所对应的相位差，计算FTC的小数部分，结合整数拓扑荷部分得出关联涡旋光分数阶拓扑荷的最终值。

本发明授权一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的方法在权利要求书中公布了：1.一种测量分数阶关联涡旋光束拓扑荷的方法，由激光器1，空间光调制器2，计算机3，小孔光阑4，连拍相机5，计算机6组成；其特征在于：A计算机3中制备用于产生不同方位角的全息型相位板图像；将所述计算机3与空间光调制器2连接，并将制备的全息图加载至所述空间光调制器2中；打开激光器1产生分数阶关联涡旋光，调整所述激光器1出射光束光斑大小使其能完全覆盖空间光调制器2的全息型相位板；通过所述计算机3调整空间光调制器2上全息型相位板的方位角，使数字全息型相位板产生的交叉密度谱函数CCF缺口与部分相干涡旋光PCVB的分数拓扑荷FTC缺口重合；B使用小孔光阑4选取所述空间光调制器2的反射光中的一级衍射光；所述空间光调制器2反射出的一级衍射光入射到连拍相机5中，通过所述计算机6控制所述连拍相机5拍照得到缺口重合后的图像；并记录下此时全息型相位板的方位角；在所述计算机3中换上不同相位差的相位板全息片，来产生具有不同相位的衍射图，重复上述拍照步骤，将图片保存；C改变数字全息型相位板的相位差；使待测光场CCF中FTC缺口与相位板缺口的重合处呈现以下变化：缺口出现-缺口消失-缺口再出现；记录下这三个变化发生时数字全息型相位板所加载的相位差，计算出FTC的小数部分；结合整数拓扑荷部分就是关联涡旋光的分数阶拓扑荷的最终值。

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