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龙图腾网恭喜沈阳和研科技股份有限公司申请的专利一种划片机的基于图像的膜痕检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114519706B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210145954.6，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种划片机的基于图像的膜痕检测方法是由张明明;袁慧珠;孟繁滨;石文;徐双双;周健宇设计研发完成，并于2022-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种划片机的基于图像的膜痕检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种划片机的基于图像的膜痕检测方法，包括如下步骤：S1、设定需要提取的刀痕最大宽度和对比度；S2、机器切割动作完成后，镜头移动至入刀和出刀处采集图像；S3、使用高斯滤波器求得图像的一阶偏导数和二阶偏导数；S4、根据黑塞矩阵计算每个像素点的亚像素坐标、响应以及方向；S5、对上述结果进行滞后阈值与链接操作，从而形成若干条轮廓线；S6、对轮廓线执行线性回归，然后筛选出符合刀痕的曲线，并计算其宽度。本发明采用上述膜痕检测方法，对刀痕的有无进行判别、对刀痕的宽度进行识别，最终得到刀片切入底膜的深度信息，对下一刀的切割深度进行调整，从而达到对切割深度的精确和无人工控制。

本发明授权一种划片机的基于图像的膜痕检测方法在权利要求书中公布了：1.一种划片机的基于图像的膜痕检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、设定需要提取的刀痕最大宽度和对比度；S2、机器切割动作完成后，镜头移动至入刀和出刀处采集图像；S3、使用高斯滤波器求得图像的一阶偏导数和二阶偏导数；S4、根据黑塞矩阵计算每个像素点的亚像素坐标、响应以及方向；S5、根据步骤S4的特征值和特征向量构建线性方程At+b＝0，若方程t有解且t∈[-0.5,0.5]，计算当前像素点的亚像素坐标，特征值大于强阈值标记为2、大于弱阈值标记为1，保存特征值及其对应的特征向量；对上述结果进行滞后阈值与链接操作，从而形成若干条轮廓线；S6、对轮廓线执行线性回归，然后筛选出符合刀痕的曲线，并计算其宽度；步骤S6具体为：S61、筛选出大于图像宽度一半的轮廓线，对这些轮廓线使用最小二乘法拟合直线，保留拟合直线方向与水平方向夹角在±2°之内的轮廓线；S62、计算步骤S61所得轮廓线与拟合直线的平均绝对误差，选择误差小于5的轮廓线；S63、对步骤S62得到轮廓线，在其每个点上沿特征向量两个方向搜寻梯度绝对值最大的点，即可得到当前点左右两边的宽度；S64、对步骤S63求得的各点宽度进行平均，作为最终的输出宽度。

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