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龙图腾网恭喜西安交通大学申请的专利一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114755300B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210396988.2，技术领域涉及：G01N29/04；该发明授权一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法是由赵纪元;王琛玮;王磊;韩瑞;颜江涛设计研发完成，并于2022-04-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，包括以下步骤：在待测试块进行直线B扫，获取包括n个A扫信号的B扫信号；将无缺陷参考信号和B扫信号归一化处理，获得缺陷回波信号；从缺陷回波信号中分别提取每个A扫信号中的缺陷纵波回波时刻；以第一个扫查位置为原点，扫查方向为x正向，待测试块内部垂直于待测试块表面方向为y正向，建立坐标系；根据扫查点坐标、缺陷纵波回波时刻以及纵波波速，得到缺陷位置与尺寸。本发明的结果可以直接输出缺陷的位置和尺寸，在坐标系中绘制出缺陷形貌，输出结果直观。本发明在直线B扫的数据基础之上，即可获取缺陷尺寸，相较通过C扫检测缺陷的方式，检测效率有明显的提升。

本发明授权一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：在待测试块的待检测区域进行直线B扫，获取包括n个A扫信号的B扫信号S；将无缺陷参考信号SR和B扫信号S归一化处理，获得缺陷回波信号S’；从缺陷回波信号S’中分别提取每个A扫信号中的缺陷纵波回波时刻ti；i表示扫查点的标号；以第一个扫查位置为原点，扫查方向为x正向，待测试块内部垂直于待测试块表面方向为y正向，建立坐标系；根据扫查点坐标、缺陷纵波回波时刻以及纵波波速，得到缺陷位置与尺寸；纵波波速通过下式计算得到： 式中，H为标准试块厚度，T2为二次纵波信号的到达时刻，T4为四次纵波信号的到达时刻；缺陷位置的圆心通过下式计算得到： 式中，i为1到n，DxD,yD为缺陷位置圆心，xD为缺陷圆心横坐标，yD为缺陷圆心横坐标，xi为扫查点坐标横坐标，yi为扫查点坐标纵坐标，xi+1为下一扫查点坐标横坐标，yi+1为下一扫查点坐标纵坐标，ti为缺陷纵波回波时刻，ti+1为下一缺陷纵波回波时刻，V纵波波速；缺陷尺寸rD通过下式计算得到：

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