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龙图腾网恭喜中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利一种等离子体电子密度测量装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114867178B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210442832.3，技术领域涉及：H05H1/00；该发明授权一种等离子体电子密度测量装置是由魏学朝;解家兴;刘海庆;张际波;揭银先设计研发完成，并于2022-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种等离子体电子密度测量装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种等离子体电子密度测量装置，包括第一太赫兹固体源、第二太赫兹固体源、干涉仪光路等器件；干涉仪光路用于将第一固体源产生的光束输出至第一探测器；其还用于将第一固体源产生的光束输出至第二探测器；干涉仪光路用于将第二固体源产生的光束输出至第一探测器；其还用于将第二固体源产生的光束输出至经过等离子体的角反射镜，以使第二探测器接收由角反射镜返回的光束；第一探测器和第二探测器用于得到合束信号，以供装置根据合束信号计算等离子体电子密度。本发明实施例提供的等离子体电子密度测量装置布局紧凑，使用光学器件较少，无需使用大型支架，便于在大型等离子体实验装置上设计及安装，运行稳定，运行维护成本低。

本发明授权一种等离子体电子密度测量装置在权利要求书中公布了：1.一种等离子体电子密度测量装置，其特征在于，包括第一太赫兹固体源、第二太赫兹固体源、干涉仪光路、等离子体、角反射镜、第一探测器和第二探测器；所述第一太赫兹固体源的光信号发送端与所述干涉仪光路连接，所述干涉仪光路用于将所述第一太赫兹固体源产生的光束输出至所述第一探测器；所述干涉仪光路还用于将所述第一太赫兹固体源产生的光束输出至所述第二探测器；所述第二太赫兹固体源的光信号发送端与所述干涉仪光路连接，所述干涉仪光路用于将所述第二太赫兹固体源产生的光束输出至所述第一探测器；所述干涉仪光路还用于将所述第二太赫兹固体源产生的光束输出至经过所述等离子体的所述角反射镜，以使所述第二探测器接收由所述角反射镜返回的光束；所述第一探测器和所述第二探测器用于对各自接收到光束进行合束得到合束信号，以供所述等离子体电子密度测量装置根据所述合束信号计算等离子体电子密度。

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