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龙图腾网恭喜天津大学申请的专利两步锯齿状单斜ADC获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115802185B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-02-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211519278.0，技术领域涉及：H04N25/76；该发明授权两步锯齿状单斜ADC是由聂凯明;方冬行;高志远;高静;徐江涛设计研发完成，并于2022-11-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本两步锯齿状单斜ADC在说明书摘要公布了：本发明公开了一种两步锯齿状单斜ADC，包括像素阵列、行驱动电路、斜坡发生器、比较器模块、计数器及寄存器组成，每个比较器模块中一号比较器连接一号MOS管、二号MOS管，二号比较器连接三号MOS管、四号MOS管；一号比较器正向输入端经一号电容接至列像素电路输出端，一号比较器负向输入端经一号开关接至斜坡发生器输出端，一号开关两端间并联相互串联的二号开关和四号电容，五号MOS管栅极接至二号开关和四号电容之间，三号开关一端连接至二号开关和四号电容之间，另一端接入参考电压；一号比较器和二号比较器之间连接二号电容、三号电容。本发明既可节省SSADC的长转换时间，又可降低SSADC电路的功耗，结构简单，保证了ADC的高精度。

本发明授权两步锯齿状单斜ADC在权利要求书中公布了：1.一种两步锯齿状单斜ADC，包括像素阵列、行驱动电路、斜坡发生器、ADC阵列，ADC阵列中每列SSADC均由比较器模块、计数器及寄存器组成，所述行驱动电路为像素阵列每一行中的像素电路同时提供驱动信号，每个所述比较器模块的一个输入端均连接至斜坡发生器，另一个输入端均连接至像素阵列中其所对应列像素电路，每个所述比较器模块的输出端均连接至其所对应的计数器及寄存器的输入端，其特征在于，每个所述比较器模块均包括一号比较器OPA1和二号比较器OPA2，所述一号比较器OPA1正向输入端和正向输出端之间连接一号MOS管M1，所述一号比较器OPA1负向输入端和负向输出端之间连接二号MOS管M2，所述二号比较器OPA2正向输入端和正向输出端之间连接三号MOS管M3，所述二号比较器OPA2负向输入端和负向输出端之间连接四号MOS管M4，所述二号比较器OPA2负向输出端作为输出端连接至其所对应的计数器及寄存器的输入端；所述一号比较器OPA1正向输入端经一号电容C1连接至列像素电路输出端，所述一号比较器OPA1负向输入端经一号开关S1连接至斜坡发生器输出端，所述一号开关S1的两端之间并联有相互串联的二号开关S2和四号电容C4，五号MOS管M5栅极连接至二号开关S2和四号电容C4之间，三号开关S3一端连接至二号开关S2和四号电容C4之间，另一端接入参考电压；所述一号比较器OPA1正向输出端和二号比较器OPA2正向输入端之间连接二号电容C2，所述一号比较器OPA1负向输出端和二号比较器OPA2负向输入端之间连接三号电容C3，所述一号比较器OPA1正向输出端经五号电容C5接地GND，所述一号比较器OPA1负向输出端经六号电容C6接地GND；将量化周期分为复位阶段、粗量化阶段、低高差分输入阶段；首先在复位阶段若斜坡发生器信号Vin_ramp列像素电路输出信号Vin_pixel时，计数器开始计数，然后进入粗量化阶段，此时通过给Vin_ramp设定一个中间值电压Vc，与Vin_pixel进行比较；若VcVin_pixel则进入低差分输入阶段，若VcVin_pixel则进入高差分输入阶段，并且此时计数器计数Qx；将低高差分输入阶段的斜坡变形为三份锯齿状，包括子台阶电压段P[1:3]和子斜坡段S[1:3]，子台阶电压分别为VP[1:3]；此时根据低高差分输入阶段的Vin_pixel与VP[1:3]的大小来进行次粗量化，每次次粗量化，若Vin_pixelVP[i]，计数器计数2M，M是次粗量化对应的位数，次粗量化结束后，Vin_pixel与Vin_ramp交叠的子斜坡段会进行细量化；最终的输出结果由粗量化阶段和低高差分输入阶段的量化结果之和减去复位阶段的量化结果得出。

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