龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：三星(中国)半导体有限公司;三星电子株式会社
申请日：2024-09-27
公开（公告）日：2025-01-10
公开（公告）号：CN119295762A
专利技术分类：..通过分析部分图案来提取局部特征，例如 通过检测边缘、轮廓、循环、角落、笔划或交叉点； 连通性分析，例如 连接的组件[2022.01]
专利摘要：公开了一种关键点检测方法和关键点检测装置，其中，所述关键点检测方法包括：获取待检测图像中的目标对象的关键点的初步检测结果和第一方差信息，其中，所述初步检测结果包括关键点的位置信息；基于所述第一方差信息对所述初步检测结果进行关键点校验；基于所述关键点校验的结果，确定所述目标对象的检测结果。
专利权项：1.一种关键点检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取待检测图像中的目标对象的关键点的初步检测结果和第一方差信息，其中，所述初步检测结果包括关键点的位置信息；基于所述第一方差信息对所述初步检测结果进行关键点校验；基于所述关键点校验的结果，确定所述目标对象的检测结果。
百度查询： 三星(中国)半导体有限公司 三星电子株式会社 关键点检测方法和关键点检测装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号