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摘要:本发明涉及电路线路、电子线路硬件技术领域,具体涉及一种用于电路板启动硬件改进的检查方法,包括如下步骤:S1、规范测试点位置:需要在电路板上安排专门的区域位置放置等间距2.54mm的电源测试点,对于多负载的电源利用磁珠隔离,并对后级电源抽取测试点,放置到测试点统一放置区域;S2、阻抗测试:利用2.54mm排针制作阻抗测试探针,通过自制的探针式阻抗测试仪,快速准确的对所有测试点进行测试;所述阻抗测试仪主要包括MCU、电阻测量模块、电源模块、OLED显示模块和JTAG接口;规范了测试点位置之后,可以更加方便的自动或者手动测试阻抗,减少寻找测试点的时间;使用自制的阻抗测试仪,可以更方便快速的扫描所有需要测试点的阻抗。
主权项:1.一种用于电路板启动硬件改进的检查方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、规范测试点位置:需要在电路板上安排专门的区域位置放置等间距2.54mm的电源测试点,对于多负载的电源利用磁珠隔离,并对后级电源抽取测试点,放置到测试点统一放置区域;S2、阻抗测试:利用2.54mm排针制作阻抗测试探针,通过自制的探针式阻抗测试仪,快速准确的对所有测试点进行测试;所述阻抗测试仪主要包括MCU1、电阻测量模块、电源模块3、OLED显示模块4和JTAG接口5;所述MCU1:用于驱动DDS芯片、驱动AD芯片、对采集到的数据处理;所述MCU1选用STM32F103ZET6芯片;所述电阻测量模块:主要包括DA模块201和AD模块202;所述DA模块201控制输出电流信号,注入到待测试的测试点中,通过所述AD模块202采集测试点对地的电压值,计算出各个测试点的阻抗大小;所述电源模块3:用于将外部提供的电源通过所述电源模块3转换成低压电压,从而为各个功能模块提供稳定可靠电源;所述OLED显示模块4:所述MCU1能够通过SPI接口输出相关参数到所述所述OLED显示模块4;所述JTAG接口5:通过所述JTAG接口5对系统软件升级,能够实现不拆机对系统进行功能的远程更新;基于使用所述MCU1为STM32F103ZET6芯片的所述阻抗测试仪时,具体步骤如下:首先通过设备端配置测试点中参考地的位置,以及测试点数量及测试端的位置,并且能够通过手动设置或者学习设置正常板卡的各个测试点的对地电阻;然后MCU1驱动DA芯片产生测试电流,通过多通道模拟电子开关的切换分别注入到不同的测试点,与参考地形成回路;最后通过多路模拟开关将对地的电压信号送到AD端,通过STM32F103ZET6芯片计算电压和电流的关系比,在所述OLED显示模块4上显示出各个测试点的阻抗大小,并能够和预设电阻进行对比,把超过阈值的异常测试点进行特殊显示,更快速的测试出相关结果;其中阻抗测试仪电路包括:DA模块201、AD模块202、采样电阻Rx、PTC热敏电阻Rt、电阻R1~R5、三极管、稳压二级管和多通道模拟电子开关;所述AD模块202的输入信号IN+分别与PTC热敏电阻Rt的下端和采样电阻Rx的上端相连,采样电阻Rx的下端与AD模块202的输入信号IN-和三极管的发射极和基极相连,且AD模块202的输入信号IN-接地,PTC热敏电阻Rt的上端依次串联有电阻R1~R5,且PTC热敏电阻Rt的上端、三极管的集电极与AD模块202的参考电压VREF-相连,AD模块202的参考电压VREF+分别与多通道模拟电子开关的输入端、稳压二级管的上端以及和电源+V相连,稳压二级管的下端接地,电阻R1~R5的上端均与多通道模拟电子开关的多个输出端和多个测试探针相连,然后根据多通道模拟电子开关的切换,输出到相应的一个输出端;MCU1驱动DA模块201产生测试电流,通过多通道模拟电子开关的切换分别注入到不同的测试点,与参考地形成回路。
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