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摘要:本发明涉及的光学测定装置10具有:第1照射部11a,其对移动的试样的移动路径上的一个第1照射区域R1照射激励光L1;第2照射部11b,其对移动路径上位于比一个第1照射区域R1更靠试样的移动方向侧的位置的第2照射区域R2照射探测光L2;检测部12b1,其对由第2照射部11b向试样照射后的探测光L2进行检测;以及控制部15,其基于在因激励光L1的激励产生的试样的光学参数的过渡响应中在互不相同的多个时间点各自从试样透过,而利用检测部12b1在不同的定时检测出的探测光L2的检测强度,对多个时间点的光学参数进行计算,基于计算出的光学参数对试样的物性参数进行计算。
主权项:1.一种光学测定装置,其中,所述光学测定装置具有:第1照射部,其对移动的试样的移动路径上的一个第1照射区域照射激励光;第2照射部,其对在所述移动路径上位于比所述一个第1照射区域更靠所述试样的移动方向侧的位置的第2照射区域照射探测光;检测部,其对由所述第2照射部向所述试样照射后的所述探测光进行检测;以及控制部,其基于在因所述激励光的激励产生的所述试样的光学参数的过渡响应中,在互不相同的多个时间点各自从所述试样透过,而由所述检测部在不同的定时检测出的所述探测光的检测强度,对所述多个时间点的所述光学参数进行计算,基于计算出的所述光学参数对所述试样的物性参数进行计算。
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百度查询: 横河电机株式会社 光学测定装置、光学测定系统以及光学测定方法
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