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摘要：本发明公开了一种液晶玻璃基板翘曲厚度测量系统，涉及玻璃基板生产技术领域，包括：通过数据采集模块采集测头运动轨迹数据，并且利用数据处理模块进行综合测量轨迹判定计算，得出综合测量轨迹判定系数，然后利用数据分析模块获取测头的实时运动轨迹，并将测头的实时运动轨迹和综合测量轨迹判定系数输入至预先建立的运动轨迹精度模型内，根据轨迹精度匹配结果与设定阈值比较的结果判断此时测头的测量精度是否存在问题，再通过显示模块进行显示，实现了能够根据测量数据和轨迹确定测量后的测量精度，并提示给工作人员的功能。
主权项：1.一种液晶玻璃基板翘曲厚度测量系统，其特征在于，包括：数据采集模块：用于采集测头运动轨迹数据，将测头运动轨迹数据发送至数据处理模块，其中，所述测头运动轨迹数据包括：测量点坐标值、测头与被测零件表面间距、被测零件厚度值；数据处理模块：用于对测头运动轨迹数据进行预处理，对预处理后的测头运动轨迹数据进行标记操作，得到标记后的测头运动轨迹数据，利用标记后的测头运动轨迹数据进行综合测量轨迹判定计算，得出综合测量轨迹判定系数，将综合测量轨迹判定系数发送至数据分析模块；数据分析模块：用于获取测头的实时运动轨迹，将综合测量轨迹判定系数与测头的实时运动轨迹输入至预先建立的运动轨迹精度模型内，得到轨迹精度匹配结果，设定轨迹精度阈值，将轨迹精度匹配结果与轨迹精度阈值进行比较，根据比较结果确定测头的测量精度是否存在问题，不存在问题则发送正常信号至显示模块，存在问题则发送异常信号至显示模块；显示模块：用于接收到显示正常信号后，获取测量数值并进行显示，且提示测量数值为正常结果，在接收到显示异常信号后，获取测量数值并进行显示，且提示测量数值为异常结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 彩虹(合肥)液晶玻璃有限公司 一种液晶玻璃基板翘曲厚度测量系统
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