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半导体装置及执行测试模式操作的方法 

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摘要:本公开涉及半导体装置及执行测试模式操作的方法。一种半导体装置包括读取电路,其被配置成当测试读取控制信号使能时锁存包括关于从存储器电路输出的读取数据的错误信息的读取奇偶校验以生成锁存奇偶校验。该半导体装置还包括奇偶校验选择电路,其被配置成当测试选择信号使能时输出锁存奇偶校验作为奇偶校验。该半导体装置还包括写入电路,其被配置成在测试写入控制信号使能时,接收奇偶校验和从数据生成的写入数据,以及基于包括关于写入数据的错误信息的写入奇偶校验和奇偶校验来校正写入数据的错误以生成校正数据。

主权项:1.一种半导体装置,包括:读取电路,其在测试读取控制信号使能时,锁存包括关于从存储器电路输出的读取数据的错误信息的读取奇偶校验以生成锁存奇偶校验;奇偶校验选择电路,其在测试选择信号使能时输出所述锁存奇偶校验作为奇偶校验;以及写入电路,其在测试写入控制信号使能时,接收所述奇偶校验和从数据生成的写入数据,以及基于包括关于所述写入数据的错误信息的写入奇偶校验和所述奇偶校验来校正所述写入数据的错误以生成校正数据。

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