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摘要：本发明涉及一种辐射源位置的直接定位方法，属于辐射源定位技术领域，解决了现有技术中辐射源定位精度低的问题。所述直接定位方法包括：根据观测站测量位置模型和观测站外校正源测量信号模型，基于贝叶斯定理构建校正代价函数；根据各观测站的外校正源测量信号和校正代价函数对各观测站的测量位置进行校正；在各观测站的校正位置处对观测站辐射源测量信号模型进行泰勒级数一阶展开，获取展开后的观测站辐射源测量信号模型；根据各观测站的辐射源测量信号、校正位置辐射源信号模型和校正辐射源误差模型构建辐射源位置的定位代价函数；根据辐射源位置的定位代价函数确定辐射源的定位位置。实现了对辐射源位置的高精度定位。
主权项：1.一种辐射源位置的直接定位方法，其特征在于，所述直接定位方法包括：构建包含随机位置误差的观测站测量位置模型、包含随机信号误差的观测站辐射源测量信号模型和包含随机信号误差的观测站外校正源测量信号模型；根据观测站测量位置模型和观测站外校正源测量信号模型，基于贝叶斯定理构建校正代价函数；根据各观测站的外校正源测量信号和校正代价函数对各观测站的测量位置进行校正，得到各观测站的校正位置；在各观测站的校正位置处对观测站辐射源测量信号模型进行泰勒级数一阶展开，获取展开后的观测站辐射源测量信号模型；展开后的观测站辐射源测量信号模型包括校正位置辐射源信号模型和校正辐射源误差模型；根据各观测站的辐射源测量信号、校正位置辐射源信号模型和校正辐射源误差模型构建辐射源位置的定位代价函数；根据辐射源位置的定位代价函数确定辐射源的每个可能位置对应的最大特征值，将最大的最大特征值对应的可能位置作为辐射源的定位位置。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子科技集团公司第三十六研究所 一种辐射源位置的直接定位方法
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