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摘要:本发明提供了一种半导体蚀刻设备用石英部件的清洗再生方法,采用有机溶剂处理、高浓度混酸溶液处理、氧化剂溶液处理、硫酸溶液处理、低浓度混酸溶液处理、超声波清洗,无尘烘箱干燥七道工序依次处理,去除石英部件表面的沉积物及腐蚀破碎的石英晶粒。清洗前和清洗后的石英部件表面放大1000倍显微镜图像对比可以发现,处理后的石英部件表面整洁无污染、石英晶粒致密饱满,满足再生的要求。
主权项:1.一种半导体干刻设备用石英部件的清洗再生方法,其特征在于,包括如下步骤:1有机溶剂浸泡将待清洗部件浸泡在有机溶剂中15~20min,并采用纯水清洗,去除石英窗表面的油渍、污染物,同时疏松软化硅、氮沉积物;2高浓度混酸溶液浸泡将步骤1处理后部件放入盐酸和氢氟酸水溶液中浸泡30-60分钟,溶液最佳温度为20-35℃,然后采用纯水清洗,去除表面大部分沉积物,同时与蚀刻制程中破碎的石英晶粒反应;有该混酸溶液中,盐酸和氢氟酸水溶液的体积百分比分别为:盐酸10%-12%、氢氟酸40%-50%,余量为纯水;3氧化剂溶液浸泡将步骤2处理后石英部件放入20-35℃氨水双氧水溶液中浸泡30-60分钟,软化并去除表面的沉积物,该氨水双氧水溶液的体积百分比分别为:氨水20%-25%、双氧水40%-50%,余量为纯水;4硫酸溶液浸泡将步骤3处理后石英部件放入体积百分比为25%-35%的硫酸溶液中浸泡30-60分钟,进一步去除表面的沉积物;5低浓度混酸溶液浸泡将步骤4处理后石英窗放入20-35℃低浓度盐酸氟酸水溶液中浸泡25-30分钟,进一步去除表面的沉积物;该低浓度盐酸氟酸水溶液中,硝酸和氟酸水溶液的体积百分比分别为:盐酸4%-5%、氟酸2%-3%,余量为纯水;6超声波清洗将步骤5处理后石英部件放入超声波清洗槽中清洗,超声波强度为6-10win2,去除石英部件表面及孔隙内的颗粒物;7无尘干燥采用无尘烘箱烘干,去除石英部件表面的水分,使其处于完全干燥的状态。
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