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摘要：本公开涉及用于检测上电复位阈值的方法以及装置。公开了一种用于间接测试集成电路IC内上电复位POR信号的产生的测试电路。测试电路包括：开关，开关被配置为响应于IC的启动而选择性地将内部电路与IC的测试引脚断开；多个电阻器，所述多个电阻器连接在测试引脚与相应的多个开关之间，所述相应的多个开关被配置为响应于相应的控制信号而选择性地将所述多个电阻器中的电阻器连接到地；以及控制电路，控制电路被配置为通过基于产生POR信号的生成所根据的多个信号的状态选择性地操作所述多个开关而在测试引脚处产生指示POR信号的产生的状态的电阻。
主权项：1.一种测试电路，用于间接测试集成电路IC内上电复位POR信号的生成，所述测试电路包括：开关，被配置为响应于IC的启动而选择性地将内部电路与IC的测试引脚断开；多个电阻器，连接在测试引脚与相应的多个开关之间，所述相应的多个开关被配置为响应于相应的控制信号而选择性地将所述多个电阻器中的电阻器连接到地；以及控制电路，被配置为通过基于由其生成POR信号的多个信号的状态选择性地操作所述多个开关来在测试引脚处生成指示POR信号的生成的状态的电阻。
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