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摘要：本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种探测芯片分层的测试结构，包括工作台，工作台的上端固定连接有导轨，导轨的外表面滑动连接有滑动座，滑动座的顶端固定连接有显微镜，工作台的上端安装有两组左右对称分布的支撑机构。本实用新型通过在两个支撑机构的作用下，可以安装两个待探测芯片，当一个探测芯片通过显微镜检测完成后，可以直接的对下一个探测芯片进行检测，在检测的过程中，可以对上一个检测完成的探测芯片进行取下，并安装新的未检测的探测芯片，这样可以一直持续的进行探测芯片检测作业，此时，通过合理的运用时间，不仅节省了探测芯片安装和取下的时间，还会提高探测芯片的检测效率。
主权项：1.一种探测芯片分层的测试结构，包括工作台1，其特征在于：所述工作台1的上端固定连接有导轨3，所述导轨3的外表面滑动连接有滑动座，所述滑动座的顶端固定连接有显微镜4，所述工作台1的上端安装有两组左右对称分布的支撑机构，所述支撑机构包括第一固定板5、第二固定板6、支撑台12、第一位移调节组件和第二位移调节组件，每组支撑机构中均包括两个左右分布的第一固定板5和第二固定板6，位于左端的第一固定板5固定安装在工作台1的顶端，位于右端的第一固定板5滑动连接在工作台1的上端，两第二固定板6均放置在工作台1的上端，两第一固定板5相互靠近的一端与两第二固定板6相互靠近的一端均固定连接有支撑台12，且支撑台12分别与第一固定板5和第二固定板6为一体式结构，前后分布并相邻的两组第一固定板5和第二固定板6之间分别通过第一位移调节组件连接，所述工作台1的上端设置有第二位移调节组件，且第二位移调节组件与位于右端的第一固定板5连接，并与右端的第一位移调节组件连接，所述第二位移调节组件用于调节右端第一固定板5和第二固定板6的位置。
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百度查询： 广东腾昕检测技术有限公司 一种探测芯片分层的测试结构
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