Document
拖动滑块完成拼图
首页 专利交易 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 IP管家助手 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索

一种全场位移测量方法及系统 

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

摘要:本申请公开了一种全场位移测量方法及系统,其中,全场位移测量方法为将表面位移场作为边界约束与DVC法结合,不仅能解决DVC法在计算试件的表面变形时缺少试件表面的图像信息的问题,而且将3D‑DIC法测量的表面位移场作为正则化条件引入DVC法,可以改善DVC法求解的不适定性,提高可靠性和测量精度。

主权项:1.一种全场位移测量方法,其特征在于,包括:由所述试件的外形尺寸,建立几何模型,并对所述几何模型进行网格划分;获取试件加载前的加载前表面轮廓图像fsxs和加载前体图像fx;对所述试件施加载荷,得到加载后的所述试件;获取加载后的所述试件的加载后表面轮廓图像gsx's和加载后体图像gx';由所述加载前表面轮廓图像fsxs和所述加载后表面轮廓图像gsx's得到表面位移场usxs;结合网格划分、所述加载前体图像fx、所述加载后体图像gx'和所述表面位移场usxs,利用DVC法得到所述试件的全场位移ux,其中,所述全场位移ux包括所述试件的内部节点位移和所述试件的表面节点位移uis,所述表面位移场usxs作为利用所述DVC法获取所述试件的表面节点位移uis的迭代初值,s代表表面;xs为加载前所述试件表面各点的坐标xs,ys,zs;x'S为加载后所述试件表面各点的坐标x's,y's,z's,x's=xs+usxs;x为加载前所述试件内部各点的坐标x,y,z;x'为加载后所述试件内部各点的坐标x',y',z',x'=x+ux;uSxS为所述试件表面各点位移矢量usxs,vsxs,wsxs;ux为所述试件各点的位移矢量ux,vx,wx。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国矿业大学(北京) 一种全场位移测量方法及系统

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

相关技术
相关技术
相关技术
相关技术