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摘要：本申请提供一种基于半导体领域大模型的版面分析方法及装置，方法包括：利用光学字符识别模型对半导体图像文档进行文字识别，输出半导体图像文档中包括的多个文字元素以及每个文字元素对应的边界框信息；利用版面分割模型对半导体图像文档进行版面分割，输出多个板块子图，以及各板块的边界框信息和板块类别；将光学字符识别模型和版面分割模型的输出结果，以及预设提示词输入半导体领域大模型，使其在预设提示词的引导下进行边界框关联和合并操作，输出半导体图像文档对应的版面分析结果。由此，将光学字符识别模型和版面分割模型的输出结果输入半导体领域大模型进行版面分析，可以将关联的边界框进行合并，从而提高版面分析的效率和准确率。
主权项：1.一种基于半导体领域大模型的版面分析方法，其特征在于，所述方法包括：利用光学字符识别模型对半导体图像文档进行文字识别，输出所述半导体图像文档中包括的多个文字元素以及每个文字元素对应的边界框信息；利用版面分割模型对所述半导体图像文档进行版面分割，输出多个板块子图，以及各板块的边界框信息和板块类别；将所述光学字符识别模型和版面分割模型的输出结果，以及预设提示词输入半导体领域大模型，使其在所述预设提示词的引导下进行边界框关联和合并操作，输出所述半导体图像文档对应的版面分析结果；所述半导体领域大模型通过预训练得到。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳智现未来工业软件有限公司 一种半导体领域大模型的版面分析方法及装置
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