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摘要：本发明公开了一种离子管剩余寿命计算方法，包括以下步骤：获取离子管运行状态数据，得到离子管老化特性曲线；采用离子管老化特性曲线训练长短期记忆神经网络；采用训练好的长短期记忆神经网络计算离子管的剩余寿命。本发明采用长短期记忆神经网络对离子管的剩余寿命进行计算，所设计的方法具有智能、精准以及满足实际应用需求的优点。
主权项：1.一种离子管剩余寿命计算方法，其特征在于，包括以下步骤：S1.获取离子管运行状态数据，得到离子管老化特性曲线；所述离子管是指一种用于产生负离子的介质阻挡放电器件，该离子管由内电极、外电极以及封闭玻璃管介质组成，在内、外电极之间施加工频高压电，在玻璃管表面形成稳定的放电；所述获取离子管运行状态数据是指采用离子管运行状态数据采集装置获取离子管持续运行过程中的状态数据，该数据采集装置输出固定的工频高压电，实现离子管正常放电，并获取离子管连续工作过程中的总电压与测量电压信号；所述离子管的总电压与测量电压是指施加在离子管上的工频高电压以及与离子管串联的测量电容上的电压，分别代表离子管的工作电压与放电电荷，基于离子管的总电压与测量电压，可以得到离子管的李萨如图；通过分析离子管的李萨如图或者直接分析测量电压信号确定离子管失效的时刻点，得到离子管的总寿命时间，并标定由数据采集装置获取的离子管连续工作过程中的测量电压信号曲线，从而得到离子管老化特性曲线；S2.采用离子管老化特性曲线训练长短期记忆神经网络；所述长短期记忆神经网络LongShort-TermMemory,LSTM的结构为：输入层、LSTM层、Relu激活层、全连接层、回归层，网络超参数为：输入层神经元个数为1000，LSTM层神经元个数为800，Relu激活层采用Relu激活函数，全连接层输出神经元个数为50；将得到的离子管老化特性曲线按所构建长短期记忆神经网络结构进行数据拆分与归一化处理，并对长短期记忆神经网络进行训练与测试，得到训练好的长短期记忆神经网络；S3.采用训练好的长短期记忆神经网络计算离子管的剩余寿命。
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百度查询： 湖南师范大学 一种离子管剩余寿命计算方法
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