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摘要:本发明公开了一种同轴光路激光测距装置,涉及激光测距领域,包括固定底座、激光器、发射电路板、反光镜、内光路调节柱、光学透镜、滤光片、光电探测器和接收电路板,固定底座的一端由外至内依次设置有激光器和反光镜,发射电路板固定于固定底座一端的外部并与激光器电连接,反光镜由靠近激光器的一端至远离激光器的一端向下倾斜45°设置,反光镜上设置有透光孔,内光路调节柱转动安装于固定底座上且位于透光孔的下方,固定底座的另一端设置有光学透镜,固定底座的上部由外至内依次设置有接收电路板、光电探测器和滤光片。该同轴光路激光测距装置便于调节内光路的光强,弥补了传统收发同轴光路系统的测程比收发异轴光路系统差的不足。
主权项:1.一种同轴光路激光测距装置,其特征在于,包括固定底座、激光器、发射电路板、反光镜、内光路调节柱、光学透镜、滤光片、光电探测器和接收电路板,所述固定底座为中空结构,所述固定底座的一端由外至内依次设置有所述激光器和所述反光镜,所述发射电路板固定于所述固定底座一端的外部并与所述激光器电连接,所述反光镜由靠近所述激光器的一端至远离所述激光器的一端向下倾斜45°设置,所述反光镜上设置有透光孔,所述内光路调节柱转动安装于所述固定底座上且位于所述透光孔的下方,所述固定底座的另一端设置有所述光学透镜,所述固定底座的上部由外至内依次设置有所述接收电路板、所述光电探测器和所述滤光片,所述光电探测器与所述接收电路板电连接;所述激光器发出的激光束经过所述反光镜时,第一部分激光束能够通过所述透光孔和所述光学透镜出射至目标上,目标漫反射回的光线经过所述光学透镜,再通过所述反光镜反射至所述滤光片和所述光电探测器上,第二部分激光束能够通过所述反光镜的底面反射至所述内光路调节柱上,再经过所述内光路调节柱反射通过所述透光孔和所述滤光片投射到所述光电探测器上,所述内光路调节柱能够调节第二部分激光束经过反光镜的底面和内光路调节柱反射后形成的光束的光强。
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百度查询: 深圳市威睿晶科电子有限公司 一种同轴光路激光测距装置
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