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摘要：本发明涉及一种基于CCD感知的发光强度及均匀度的检测方法，包括标定步骤和检测步骤，所述检测步骤包括以下步骤：步骤a1、取待测发光面，设置CCD的参数，使其与标定步骤的CCD参数相同；步骤a2、在暗室环境中，对待测发光面做成像，得到成像图像I；步骤a3、提取成像图像I的亮度特征矩阵M和均匀度特征U；步骤a4、根据标定步骤建立并学习亮度模型，得到学习后的亮度模型；步骤a5、根据学习后的亮度模型和亮度特征矩阵计算待测发光面的亮度A；根据均匀度特征矩阵U，计算待测发光面的均匀度u。本发明能够实现不同发光材质的亮度和均匀检测，而且能实现不同发光位置、不同发光尺寸的检测，能够抗噪声干扰，且简单易实行。

主权项：1.一种基于CCD感知的发光强度及均匀度的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤a1、取待测发光面，设置CCD的参数，使其与标定步骤的CCD参数相同；步骤a2、在暗室环境中，对待测发光面做成像，得到成像图像I；步骤a3、提取成像图像I的亮度特征矩阵M和均匀度特征矩阵U；所述步骤a3具体包括以下步骤：步骤a31、生成成像图像I的k层金字塔G，表示为：G＝{G1…Gj},j＝1,2,…,k；步骤a32、将Gj分为相同大小的m*n区域，j＝1,2,…,k；步骤a34、依次提取Gj,j＝1,2,…,k上相同位置的灰度值Gjp,q，p,q为位置点的坐标，p＝1,2,…,m；q＝1,2,…,n，构成尺度一致局部直方图，表示为：Hp,qj＝Gjp,q；j＝1,2,…,k；p＝1,2,…,m；q＝1,2,…,n；步骤a35、将所有尺寸一致局部直方图Hp,qj进行合并，得到成像图像I的多维特征矩阵H，表示为：H＝{Hp,qj|j＝1,2,…,k；p＝1,2,…,m；q＝1,2,…,n}则，成像图像I的亮度特征矩阵M表示为： 步骤a36、将多维特征矩阵H做归一化处理，表示为： 生成成像图像I的均匀度特征矩阵U，表示为： 步骤a4、根据标定步骤建立并学习亮度模型，得到学习后的亮度模型；所述标定步骤包括以下步骤：步骤b1、选取与待测发光面相同的N个发光面样品，按照等差变换规律设置N个发光面样品的亮度值；步骤b2、将每个发光面样品分成m*n个区域，用高精度测量工具对发光面样品的各个区域做亮度测量，N个发光面样品的亮度标准值，表示为： 其中，Ai为第i个发光面样品的亮度标准值，i＝1、2……N；步骤b3、设置CCD的参数；步骤b4、在暗室环境中，将N个发光面样品依次放置于CCD的正下方，并对其进行成像，生成N个成像图像Bi，i＝1,2,…,N，得到对应的成像图像序列{Bi}i＝1,2,…,N；步骤b5、提取成像图像序列{Bi}中每个成像图像Bi的亮度特征矩阵Mi，提取步骤与步骤a3相同；步骤b6、建立亮度模型： 其中Mi为成像图像Bi的亮度特征矩阵，Ai为第i个发光面样品的亮度标准值，α、β和γ为亮度模型中的待训练值；步骤b7、将所有成像Bi的亮度特征矩阵Mi代入亮度模型中，训练亮度模型，得到训练后的亮度模型；步骤a5、根据学习后的亮度模型和亮度特征矩阵计算待测发光面的亮度A；根据均匀度特征矩阵U，计算待测发光面的均匀度u。

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