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摘要：本发明公开了一种闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统，测量方法的步骤包括：S1、放射源产生的高能辐射在闪烁晶体中产生闪烁光子，然后被光电倍增管收集和倍增并通过光电效应转换成电信号，示波器读取光电倍增管的电信号而得到关于电压脉冲信号的波形；S2、通过对关于电压脉冲信号的波形拟合处理，即得到闪烁晶体的发光衰减时间。测量系统包括：光电倍增管底座、与光电倍增管底座相连接的光电倍增管以及计算机，光电倍增管底座输入连接有高压电源，用于对光电倍增管供电；光电倍增管光阴极中心通过硅脂耦合放置有待测闪烁晶体,并通过遮光罩覆盖待测闪烁晶体。本发明能够准确测量不同闪烁晶体发光衰减时间，测试过程操作简单、快捷。
主权项：1.一种闪烁晶体发光衰减时间的测量方法，其特征在于，具体步骤如下：S1、放射源产生的高能辐射在闪烁晶体中产生闪烁光子，然后被光电倍增管收集和倍增并通过光电效应转换成电信号，示波器读取光电倍增管的电信号而得到关于电压脉冲信号的波形；S2、通过对关于电压脉冲信号的波形拟合处理，即得到闪烁晶体的发光衰减时间；步骤S2中对波形拟合时，选取波形衰减部分作为拟合对象，选用指数衰减函数作为拟合函数，所述指数衰减函数为 其中，vt为输出电压脉冲；C为积分电容容值，R为电阻阻值；I0为起始闪烁光子强度，τ为发光衰减时间，η为每单位闪烁体光强经光电倍增管倍增后阳极输出电流；该指数衰减函数拟合出的波形即为波形衰减部分对应的波形，通过波形衰减部分并结合指数衰减函数即可拟合出闪烁晶体发光衰减时间。
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百度查询： 中国电子科技集团公司第二十六研究所 闪烁晶体发光衰减时间的测量方法及测量系统
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