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摘要:一种半导体结构的形成方法,包括:提供衬底晶圆,所述衬底晶圆具有相对的第一面和第二面;对所述晶圆的第一面进行刻蚀,在所述晶圆内形成凹槽;在所述晶圆的第二面形成第二应变层,所述第二应变层用于使所述晶圆内具有第二应力;在所述凹槽内形成第一应变层,所述第一应变层用于使所述晶圆具有第一应力。从而,改善了半导体结构的应力。
主权项:1.一种半导体结构的形成方法,其特征在于,包括:提供衬底晶圆,所述衬底晶圆具有相对的第一面和第二面;对所述晶圆的第一面进行刻蚀,在所述晶圆内形成凹槽;在所述晶圆的第二面形成第二应变层,所述第二应变层用于使所述晶圆内具有第二应力;通过第二应力对第一应力的抵消,使得第一应力和第二应力之间更为平衡、晶圆内整体所受到的应力也较为均匀;在所述凹槽内形成第一应变层,所述第一应变层用于使所述晶圆具有第一应力;形成所述第二应变层的方法包括:在形成所述第一应变层前,采用炉管工艺在所述晶圆的第一面和第二面形成第二应变材料层;刻蚀所述第一面的第二应变材料层,直至去除所述第一面的第二应变材料层。
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