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摘要：本发明提供一种CCD检测单晶等径过程直径的方法，包括以下步骤：获取籽晶的直径D1；获取所述籽晶熔接过程的图像阈值X1；获取单晶等径过程的图像阈值X2；根据所述籽晶的直径D1与图像阈值X1的比例关系，计算所述单晶的直径D2。本发明的有益效果是提高了CCD检测单晶等径过程直径的测量精度，保证了单晶及成品的质量。
主权项：1.一种CCD检测单晶等径过程直径的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取籽晶的直径D1；获取所述籽晶熔接过程的图像阈值X1；获取单晶等径过程的图像阈值X2；根据所述籽晶的直径D1与图像阈值X1的比例关系，计算所述单晶的直径D2。
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百度查询： 内蒙古中环晶体材料有限公司 一种CCD检测单晶等径过程直径的方法
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