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降低了损耗的功率半导体器件及其制造方法 

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摘要:公开了一种降低了损耗的功率半导体器件及其制造方法。功率半导体器件包括:第一传导型的第一漂移区;第一传导型的第二漂移区,在所述第一漂移区的上部外延生长而形成;以及第二传导型的埋设离子区,埋设于所述第二漂移区的内部。

主权项:1.一种功率半导体器件,其特征在于,包括:第一传导型的第一漂移区;第一传导型的第二漂移区,外延生长形成在所述第一漂移区的上部;以及第二传导型的埋设离子区,埋设于所述第二漂移区的内部,其中,所述埋设离子区沿侧向以预设的延伸长度w-BPR形成,并且在侧向上与相邻的埋设离子区隔开预设的间距值X,所述第二漂移区外延生长成离子浓度相对高于所述第一漂移区,以对应于因形成所述埋设离子区而增加的第二传导型的离子量。

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百度查询: 特瑞诺科技股份有限公司 降低了损耗的功率半导体器件及其制造方法

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