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摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种芯片测试方法及芯片测试装置，包括：向待测设备的存储芯片写入第一数据文件，并创建进度文件以记录存储芯片中已写入第一数据文件的写入进度，其中，进度文件是存储芯片在写入第一数据文件是与写入比例对应的文件；在第一预设时刻切断存储芯片的电源；重启待测设备的电源，并根据所述进度文件校验写入所述存储芯片的第一数据文件的完整性。以此，通过进度文件可以准确地知道在断电前已经写入的数据量和位置，从而有针对性地对这些数据进行完整性校验，提高了校验效率，并提升了发现问题的准确性。
主权项：1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：向待测设备的存储芯片写入第一数据文件，并创建进度文件以记录所述存储芯片中已写入第一数据文件的写入进度，其中，所述进度文件是所述存储芯片在写入所述第一数据文件是与写入比例对应的文件；在第一预设时刻切断所述存储芯片的电源，所述第一预设时刻是基于测试需求和存储芯片的特性确定的时间点；重启所述待测设备的电源，并根据所述进度文件校验写入所述存储芯片的第一数据文件的完整性。
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百度查询： 联和存储科技(江苏)有限公司 芯片测试方法及芯片测试装置
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