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摘要:本发明公开一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法,属于数字集成电路EDA仿真领域。对被测电路进行ATE测试;根据所述被测电路的管脚,编写管脚信息文件;根据所述管脚信息文件,利用自动生成脚本生成测试码抓取模块和例化模块;将所述例化模块集成进EDA仿真平台中;选择所述EDA仿真平台中对应的功能进行仿真,同时输出ATE测试码,从而能够在EDA仿真中,根据仿真功能直接生成测试码,无需额外的工作量。
主权项:1.一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法,其特征在于,包括:对被测电路进行ATE测试;根据所述被测电路的管脚,编写管脚信息文件;根据所述管脚信息文件,利用自动生成脚本生成测试码抓取模块和例化模块;将所述例化模块集成进EDA仿真平台中;选择所述EDA仿真平台中对应的功能进行仿真,同时输出ATE测试码;所述测试码抓取模块包括采样时钟,所述采样时钟抓取所述被测电路的管脚上的信号值;所述信号值包括输入信号和输出信号,所述输入信号为0或1,所述输出信号为高电平H或低电平L;所述管脚信息文件为TXT文件,包括管脚名称、管脚方向类型和管脚输入输出信号。
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权利要求:
百度查询: 中国电子科技集团公司第五十八研究所 一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法
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