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申请/专利权人：山东墨氪智能科技有限公司

摘要：本发明涉及一种适于半导体器件参数测试的流程生成执行方法。其包括：获取半导体器件参数测试用的器件测试目标流程图，基于器件测试目标流程图的测试流向，生成对应的器件测试抽象语法树，基于上述的器件测试抽象语法树，生成基于宿主语言的流程逻辑代码文本，基于流程逻辑代码文本执行半导体器件的参数测试，并在执行参数测试后生成参数测试结果，其中，执行半导体器件的参数测试时，配置参数测试用的目标接口以及目标测试参数，以在执行所述半导体器件的参数测试过程中，调用目标接口以及目标测试参数。本发明能有效实现对半导体器件参数测试的需求，提高测试效率以及可靠性。

主权项：1.一种适于半导体器件参数测试的流程生成执行方法，其特征是，所述流程生成执行方法包括：获取半导体器件参数测试用的器件测试目标流程图，其中，所述器件测试目标流程图包括具有若干流程节点的流程节点组以及具有若干有向连接线的有向连接线组，在器件测试目标流程图内，基于流程节点组内的流程节点，至少形成一个开始节点、一个结束节点以及若干测试内容节点；有向连接线组内的有向连接线将流程节点组内的流程节点适配连接，以基于有向连接线的连接指向状态形成器件测试目标流程图的测试流向；基于器件测试目标流程图的测试流向，生成对应的器件测试抽象语法树，其中，生成的器件测试抽象语法树中，器件测试目标流程图的开始节点作为所述器件测试抽象语法树的根节点；基于上述的器件测试抽象语法树，生成基于宿主语言的流程逻辑代码文本，其中，所述流程逻辑代码文本包括器件测试目标流程图的测试流向；基于流程逻辑代码文本执行半导体器件的参数测试，并在执行参数测试后生成参数测试结果，其中，执行半导体器件的参数测试时，配置参数测试用的目标接口以及目标测试参数，以在执行所述半导体器件的参数测试过程中，调用目标接口以及目标测试参数；所述测试内容节点包括用于控制测试流向的操作对象节点以及作为参数测试逻辑代码载体的功能模块节点，其中，所述操作对象节点包括If操作节点、While操作节点、End操作节点、Break操作节点、For操作节点和或Code操作节点，其中，If操作节点为器件测试目标流程图中的条件分支操作节点；While操作节点与End操作节点配对，以形成器件测试目标流程图中的循环结构，Break操作节点为器件测试目标流程图内循环结构的退出操作节点；For操作节点为器件测试目标流程图中的For循环开始节点；Code操作节点为器件测试目标流程图中的宿主语言代码块；功能模块节点，至少包括参数测试逻辑代码以及执行所述参数测试逻辑代码所需的目标测试参数；生成器件测试抽象语法树时，包括：基于测试流向，按自顶向下递归下降的方式遍历器件测试目标流程图内的流程节点，其中，将开始节点配置作为器件测试抽象语法树的根节点以及一个对应的父节点，并沿着有向连接线的箭头指向搜索查找对应的流程节点，且将搜索查找的第一个流程节点作为父节点的右子树根节点；对每个搜索查找确定的流程节点，当所述流程节点为测试内容节点时，基于测试内容节点的类型，依照递归下降遍历方式确定在器件测试抽象语法树上相应树节点的分布位置状态，直至搜索查找到结束节点；基于搜索查找的结束节点，在器件测试抽象语法树上配置树结束节点；当前的流程节点为测试内容节点，且所述测试内容节点的类型为操作对象节点时，则有：若当前流程节点为If操作节点，将当前流程节点左侧有向连接线指向的目标流程节点B作为当前节点左子树的根节点，将当前流程节点右侧有向连接线指向的目标流程节点C作为当前节点右子树的根节点，当存在两条有向连接线同时指向流程节点E，且目标流程节点B与目标流程节点C、流程节点E的距离最近时，终止当前流程节点左子树、右子树的递归遍历；若当前流程节点为While操作节点或For操作节点，则搜索与当前流程节点距离最近的End操作节点，并将当前节点与相应End操作节点线路上的流程节点作为当前流程节点的右子树；若当前流程节点为Break节点、Code操作节点或End操作节点，则将当前流程节点作为对应子树的根节点，并沿测试流向继续递归遍历流程节点；当前的流程节点为测试内容节点，且所述测试内容节点的类型为功能模块节点时，则将当前流程节点作为对应子树的根节点，并沿测试流向继续递归遍历流程节点。

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