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摘要：本发明提供一种测试处理器及其控制方法,测试处理器包括：主体部；袋状框架，可分离式结合于所述主体部，所述袋状框架中形成有能够放置电子部件的袋状空间；以及支撑部件，夹入于所述袋状框架与所述主体部之间，所述支撑部件中能够安置所述电子部件，在支撑部件中形成有第一开放孔及多个第二开放孔，当所述电子部件被安置在所述支撑部件上时，所述电子部件的端子中的一部分能够贯通所述第一开放孔，所述电子部件的端子的另一部分能够贯通所述多个第二开放孔，并且所述多个第二开放孔能够沿所述第一开放孔的外围形成。
主权项：1.一种测试处理器，其特征在于，包括：主体部；袋状框架，可分离式结合于所述主体部，所述袋状框架中形成有能够放置电子部件的袋状空间；以及支撑部件，夹入于所述袋状框架与所述主体部之间，所述支撑部件中能够安置所述电子部件，在所述支撑部件中形成有第一开放孔及多个第二开放孔，当所述电子部件被安置在所述支撑部件上时，所述电子部件的端子中的一部分能够贯通所述第一开放孔，所述电子部件的端子的另一部分能够贯通所述多个第二开放孔，并且所述多个第二开放孔能够沿所述第一开放孔的外围形成。
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百度查询： 泰克元有限公司 测试处理器及其控制方法
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