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基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法 

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申请/专利权人:深圳市咏华宇电子有限公司

摘要:本发明涉及图像处理技术领域,提出了基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法,包括:获取发光二极管照明灰度图像并得到发光二极管照明灰度图像中的照明质量待测区;得到第一区域和第二区域,根据第一区域与第二区域的能量值、灰度均值、所有第一距离的均值、所有第二距离的均值得到照明均匀度;将最小外接矩形分为第一部分和第二部分,获取标记像素点,根据所有的标记像素点得到最小观察角度;根据生长阈值将照明质待测区分为若干第三区域,根据第三区域获得若干第四区域,获得照明综合质量并得到照明综合质量的最终值,根据最终值判断发光二极管质量。本发明根据多角度多方位的计算,对于多环境都可以保持较高的检测精度。

主权项:1.基于图像处理的发光二极管照明质量检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:获取发光二极管照明灰度图像及照明质量待测区并计算发光二极管的显色指数、初始光通量和初始光效;将照明质量待测区根据灰度值分为第一区域和第二区域,获取第一区域和第二区域的能量值以及灰度均值,获取照明质量待测区的最小外接矩阵与照明侧,计算第一区域和第二区域中每个像素点到照明侧的距离为第一距离、第二距离;根据第一区域的能量值、灰度均值、所有第一距离的均值与第二区域的能量值、灰度均值、所有第二距离的均值得到照明质量待测区的照明均匀度;根据照明质量待测区的最小外接矩阵中照明侧中点与其在最小外接矩阵中的中点将最小外接矩形分为第一部分和第二部分,获取最小外接矩形内的所有边缘像素点,根据边缘点所在部分得到每个边缘点到各自部分中最小外接矩阵侧边的距离,根据距离大小标记像素点,根据所有的标记像素点得到最小观察角度;根据照明质量待测区所有像素点的灰度值获得生长阈值,根据生长阈值将照明质量待测区分为若干第三区域,获取每个第三区域的边缘像素点,根据每个第三区域的边缘像素点与最小观察角度进行判断获得若干第四区域;根据第四区域数量、第三区域数量、照明质量待测区的照明均匀度、最小观察角度以及发光二极管的显色指数、初始光通量和初始光效获得照明综合质量;获取多个方位的照明综合质量,选择最大的两个照明综合质量的均值作为照明综合质量的最终值,根据照明综合质量的最终值判断发光二极管质量。

全文数据:

权利要求:

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