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申请/专利权人:北京中科昊芯科技有限公司
摘要:本申请实施例提供一种循环冗余校验的方法及芯片,所述方法包括:设置状态控制寄存器的值,其中,所述状态控制寄存器的值用于表征本次校验是否需要对输入数据包括的被检验字节进行反序;对所述输入数据的第i被校验字节分别执行如下操作,得到校验结果:加载与第i被校验字节对应的多位输入数据;根据校验指令对所述第i被检验字节进行校验运算,得到第i校验结果,其中,所述被校验字节存储在与所述校验指令对应的第二操作数寄存器中,所述校验指令通过循环方式对存储于所述第二操作数寄存器中的数和第一操作数寄存器中的数进行位逻辑运算,所述第一操作数寄存器用于存储初始值和校验过程值。采用本申请的实施例降低芯片制造成本且减小芯片面积。
主权项:1.一种循环冗余校验的方法,其特征在于,所述方法包括:设置状态控制寄存器的值,其中,所述状态控制寄存器的值用于表征本次校验是否需要对输入数据包括的被检验字节进行反序;对所述输入数据的第i被校验字节分别执行如下操作,得到校验结果:加载与第i被校验字节对应的多位输入数据;根据校验指令对所述第i被检验字节进行校验运算,得到第i校验结果,其中,所述被校验字节存储在与所述校验指令对应的第二操作数寄存器中,所述校验指令通过循环方式对存储于所述第二操作数寄存器中的数和第一操作数寄存器中的数进行位逻辑运算,所述第一操作数寄存器用于存储初始值和校验过程值;其中,i为大于或等于1的整数;其中:所述根据校验指令对所述第i被检验字节进行校验运算,得到第i校验结果,包括:在所述第一操作数寄存器中存储初始值或者校验过程中的结果值;根据所述状态控制寄存器中的值将所述第i被校验字节存入所述第二操作数寄存器中;将所述第一操作数寄存器中的值与所述第二操作数寄存器中的值按位进行逻辑运算得到计算结果并将所述计算结果赋值给中间变量n,直至循环结束将所述中间变量的值存入所述第一操作数寄存器中。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 北京中科昊芯科技有限公司 一种循环冗余校验的方法及芯片
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