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申请/专利权人：杭州丰禾测控技术有限公司

摘要：本发明实施例公开了一种测斜方位数据的校正方法，包括：获取设定采样时间内的传感器数据；对传感器数据进行滤波及校正处理，获得目标传感器数据；根据目标传感器数据，结合设定公式，确定校正后的测斜方位数据。本发明实施例提供的测斜方位数据的校正方法，在不改变仪器硬件电路和机械结构的情况下，利用校正算法对传感器采集到的磁通门传感器数据和加速度传感器数据进行校正，进而根据校正后的数据确定最终的测斜方位数据，提高了测斜方位数据的准确性，为实时钻井和地层测井评价等工作提供了可靠数据支撑。

主权项：1.一种测斜方位数据的校正方法，其特征在于，包括：获取设定采样时间内的传感器数据，所述传感器数据包括磁通门传感器数据和加速度传感器数据，所述磁通门传感器数据包括磁表X分量数据、磁表Y分量数据和磁表Z分量数据，所述加速度传感器数据包括加表X分量数据、加表Y分量数据和加表Z分量数据；对所述传感器数据进行低通滤波及限幅滤波处理，获得滤波传感器数据；针对所述滤波传感器数据中的磁表X分量数据、磁表Y分量数据、加表X分量数据和加表Y分量数据，分别绘制原始磁表X-Y分量散点图和原始加表X-Y分量散点图；其中，所述原始磁表X-Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的磁表X分量数据和磁表Y分量数据，所述原始加表X-Y分量散点图中的每一个点的横纵坐标值分别为同一次采样中的加表X分量数据和加表Y分量数据；对所述原始磁表X-Y分量散点图和所述原始加表X-Y分量散点图分别进行圆方程拟合，确定原始磁表圆和原始加表圆；根据所述原始磁表圆和所述原始加表圆，分别对所述原始磁表X-Y分量散点图和所述原始加表X-Y分量散点图中的各点进行圆心校正，令圆心校正后的所述原始磁表X-Y分量散点图和所述原始加表X-Y分量散点图中的各点对应的圆心为原点；分别对圆心校正后的所述原始磁表X-Y分量散点图和所述原始加表X-Y分量散点图中的各点进行半径校正，令半径校正后的所述原始磁表X-Y分量散点图和所述原始加表X-Y分量散点图中的各点与原点的距离分别为所述原始磁表圆和所述原始加表圆的半径，令所述原始磁表X-Y分量散点图中的各点分布在标准磁表圆上，所述原始加表X-Y分量散点图中的各点分布在标准加表圆上；其中，所述标准磁表圆和所述标准加表圆的圆心为坐标原点，所述标准磁表圆和所述标准加表圆的半径分别为所述原始磁表圆和所述原始加表圆的半径；根据同一采样时间下所述标准磁表圆和所述标准加表圆上的点的坐标，确定所述标准磁表圆和所述标准加表圆之间的夹角；将所述采样时间内的夹角平均值确定为设定值，根据所述设定值对所述标准加表圆上的点进行旋转，令夹角校正后的所述标准磁表圆和所述标准加表圆之间的夹角为所述设定值；将夹角校正后的所述标准磁表圆和所述标准加表圆对应的标准磁表X分量数据、标准磁表Y分量数据和标准磁表Z分量数据、标准加表X分量数据、标准加表Y分量数据和标准加表Z分量数据确定为目标传感器数据；根据所述目标传感器数据，结合设定公式，确定校正后的测斜方位数据。

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