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申请/专利权人：莱卡微系统CMS有限责任公司
摘要：介绍一种用于确定显微镜10、78中的光学介质的折射率的方法，该显微镜具有面向样本空间14的物镜12，其中，具有待确定的折射率的所述光学介质是两种光学介质26、28之一，这些光学介质在所述样本空间14中与盖玻片或载玻片16的两个相反的表面64、68邻接，由此形成两个部分反射的界面，这些界面相距所述物镜12以不同的间距布置。在该方法中，使得测量光束34透过所述物镜12在倾斜地入射情况下转向至所述盖玻片或载玻片16，产生两个在空间上彼此分开的反射光束54a、54b，其方式为，使得所述测量光束34分别部分地在两个所述界面上反射，使得两个所述反射光束54a、54b被所述物镜12接收，并且转向至对位置灵敏的探测器60，借助所述对位置灵敏的探测器36来检测两个所述反射光束54a、54b的强度，基于两个所述反射光束54a、54b的所检测的强度来计算所述光学介质的折射率。
主权项：1.一种用于在显微镜内部确定显微镜10、78中的光学介质的折射率的方法，该显微镜具有面向样本空间14的物镜12，其中，具有待确定的折射率的所述光学介质是两种光学介质26、28之一，这些光学介质在所述样本空间14中与盖玻片或载玻片24的两个相反的表面64、68邻接，由此形成两个部分反射的界面，这些界面相距所述物镜12以不同的间距布置，其特征在于，使得测量光束34透过所述物镜12在倾斜地入射情况下转向至所述盖玻片或载玻片24，产生两个在空间上彼此分开的反射光束54a、54b，其方式为，使得所述测量光束34分别部分地在两个所述界面上反射，使得两个所述反射光束54a、54b被所述物镜12接收，并且转向至对位置灵敏的探测器60，借助所述对位置灵敏的探测器60来检测两个所述反射光束54a、54b的强度，和基于两个所述反射光束54a、54b的所检测的强度来求取所述光学介质的折射率，其中，具有待确定的折射率的所述光学介质是包埋介质，样本嵌入所述包埋介质中。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 莱卡微系统CMS有限责任公司 用于确定光学介质的折射率的方法和显微镜
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