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申请/专利权人：富士通株式会社
摘要：本发明涉及晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序。公开了一种用于计算机执行下述过程的晶体分析方法，其包括：创建指示离子晶体中的重复晶胞的数据和与所述重复晶胞相邻的相邻重复晶胞的数据的图表；根据所述图表分析离子晶体；当指示重复晶胞中与阳离子原子键合的阴离子原子的数据的第一晶胞内节点的数目为n时，将指示重复晶胞中的阴离子原子的数据的第二晶胞内节点的数目设为n‑1以下，其中重复晶胞的数据包括指示重复晶胞中的原子的数据的多个晶胞内节点，并且所述多个晶胞内节点包括第一晶胞内节点和第二晶胞内节点。
主权项：1.一种用于计算机执行下述过程的晶体分析方法，所述过程包括：创建指示离子晶体中重复晶胞的数据和与所述重复晶胞相邻的相邻重复晶胞的数据的图表，所述图表是冲突图；根据所述图表分析所述离子晶体；和在指示所述重复晶胞中与阳离子原子键合的阴离子原子的数据的第一晶胞内节点的数目为n时，将指示所述重复晶胞中的阴离子原子的数据的第二晶胞内节点的数目设为n-1以下，其中所述重复晶胞的数据包括指示所述重复晶胞中的原子的数据的多个晶胞内节点，并且所述多个晶胞内节点包括所述第一晶胞内节点和所述第二晶胞内节点，其中，通过将第二晶胞内节点的数目设为0而去除所述阴离子原子，其中，所述创建包括：为第一晶体创建第一图表；和为第二晶体创建第二图表，所述分析包括根据第一图表和第二图表计算第一晶体与第二晶体之间的相似度，其中，所述过程还包括：当所述重复晶胞中的阳离子原子彼此化学键合时，确定阳离子原子之间的化学键的键序为经由数目为0的阴离子原子的阳离子原子之间的化学键的数目。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 富士通株式会社 晶体分析方法、晶体分析装置和晶体分析程序
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