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摘要：本发明揭示了一种基于ATE设备的测试指令处理方法及ATE设备，所述基于ATE设备的测试指令处理方法，具体包括如下：上位机接收并识别测试向量中的测试指令与相应的数据集合；上位机对测试指令进行压缩，获取对应的压缩数据；上位机将压缩数据和数据集合传输至下位机，并存储至存储介质；以及下位机根据压缩数据从存储介质中读取对应的数据集合，生成并发送测试信号至待测芯片。本发明能够降低整个测试向量所占的存储空间，能够提高测试效率和缩短测试周期，还能够处理更大规模和更复杂的测试任务。
主权项：1.一种基于ATE设备的测试指令处理方法，其特征在于，具体包括如下：上位机接收并识别测试向量中的测试指令与相应的数据集合；所述上位机对所述测试指令进行压缩，获取对应的压缩数据；所述上位机将所述压缩数据和所述数据集合传输至下位机，并存储至存储介质；以及所述下位机根据所述压缩数据从所述存储介质中读取对应的数据集合，生成并发送测试信号至待测芯片。
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百度查询： 上海御渡半导体科技有限公司 一种基于ATE设备的测试指令处理方法及ATE设备
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