龙图腾网&IPTOP
- 微信扫码登录
- 账号密码登录
- 短信登录/注册
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
申请/专利权人：广东工业大学
摘要：本发明公开了一种基于NBTI效应的ADC电路退化评估方法及相关装置，方法包括：基于ADC电路的电路特性确定主流模型，并构建目标NBTI失效等效电路模型；依次对ADC工作电路及其每个模块电路分别进行退化前仿真和退化后仿真，逐步对每个模块电路的不同类别PMOS管进行退化仿真；确定电路的关键退化电路和关键退化器件。本发明通过目标NBTI失效等效电路模型将NBTI效应对电路晶体管的影响由等效电路的形式表征出来；以整体‑局部的仿真方式，研究多个器件衰退下的耦合关系，通过仿真结果来衡量NBTI效应对电路的性能影响，找到关键退化器件和关键退化电路，从而系统且全面地评估NBTI效应对ADC电路的退化可靠性。
主权项：1.一种基于NBTI效应的ADC电路退化评估方法，其特征在于，所述方法包括：基于ADC电路的电路特性确定主流模型，并构建目标NBTI失效等效电路模型；搭建ADC工作电路，并基于所述目标NBTI失效等效电路模型依次对所述ADC工作电路及其每个模块电路分别进行NBTI效应退化前仿真和NBTI效应退化后仿真，得到初仿真结果和退化后仿真结果；逐步对每个模块电路的不同类别PMOS管进行NBTI效应退化仿真，得到各模块电路的性能仿真结果；根据所有所述初仿真结果、所述退化后仿真结果和所述各模块电路的性能仿真结果，确定所述ADC工作电路的关键退化电路和关键退化器件。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 广东工业大学 基于NBTI效应的ADC电路退化评估方法及相关装置
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
主营中国专利交易买卖与专利转让许可,高校科技成果推广与科技成果转化,知识产权运营管理与平台开发,科技人才专家库与科技猎头等科技服务
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号