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申请/专利权人：湖南省湘电试验研究院有限公司;国网湖南省电力有限公司;国网湖南省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司

摘要：本发明提供了一种瓷绝缘子主次量成分的测量方法。该测量方法包括以下步骤：根据各类型瓷绝缘子的化学成分，确定主要元素的测量范围。根据主要元素的测量范围选择多个标准样品。对多个标准样品分别进行X射线荧光光谱检测，得到多个对应的标准样品荧光光谱数据。根据多个对应的标准样品荧光光谱数据建立各主要元素对应的荧光光谱值与元素含量的映射关系。根据待测物荧光光谱数据，基于各主要元素对应的荧光光谱值与元素含量的映射关系，确定待测瓷绝缘子中各主要元素的元素含量。上述的瓷绝缘子主次量成分的测量方法基于X射线荧光光谱检测的方法进行测定，步骤较短，测定周期短，强度小，并且测定结果准确性和精密度高。

主权项：1.一种瓷绝缘子主次量成分的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：根据各类型瓷绝缘子的化学成分，确定主要元素氧化物的测量范围；其中，所述主要元素氧化物包括氧化硅、氧化铝、氧化铁、氧化钛和氧化钾；根据所述主要元素氧化物的测量范围选择多个标准样品；所述多个标准样品中的各主要元素氧化物的含量分布于对应所述主要元素氧化物的测量范围内；对多个标准样品分别进行X射线荧光光谱检测，得到多个对应的标准样品荧光光谱数据；所述标准样品荧光光谱数据包括所述标准样品中各主要元素氧化物对应主要元素的荧光光谱值；根据所述多个对应的标准样品荧光光谱数据建立各主要元素对应的荧光光谱值与元素含量的映射关系；对待测瓷绝缘子进行X射线荧光光谱检测，得到待测物荧光光谱数据，所述待测物荧光光谱数据包括所述待测瓷绝缘子中各主要元素的荧光光谱值；根据所述待测物荧光光谱数据，基于各主要元素对应的荧光光谱值与元素含量的映射关系，确定所述待测瓷绝缘子中各主要元素的元素含量。

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